三角形电极离子阱单向出射及高阶场影响的理论模拟研究

为了扩展离子阱质谱仪在航天领域中的应用范围,本文利用模拟研究方式来提高三角形电极线性离子阱（Triangular-electric linear ion trap,TeLIT）的离子检测效率。本文利用模拟软件SIMION和AXSIM进行理论模拟,采用施加不对称射频电压的方式,研究TeLIT离子单向出射,并通过改变电极角度α来探究高阶电场成分对离子单向出射性能的影响。实验结果表明：当α取目前报道的最优参数140°时,在射频电压差Δ=20%处,获得的离子单向出射率可达89.5%。而当α=135°时,获得的最高离子单向出射效率接近95%,优于TeLIT最优参数α=140°时的出射率。此外,本文还讨论了不同α情况下,获得最高出射效率时,模拟质谱峰的质量分辨率,结果表明扫描速率约为1 500 Th/s时,α=135°时获得的质量分辨率可达2 500。