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为提高有源微波器件测试的器件无损性、测试正确性、测试稳定性、结果正确性和测试速动性,保障航天航空产品、通讯产品和武器整机系统的可靠性和稳定性,识别有源微波器件测试的干扰因素,规避其恶劣影响变得日益重要。本文根据有源微波器件的测试原理,结合有源微波器件的测试要求,找到了严重威胁有源微波器件正常测试的8项干扰因素,并针对这8项干扰因素逐一找到了可行的抗干扰对策,对有源微波器件测试具有很深的实践指导意义。 相似文献
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