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运用地面模拟设备对硅橡胶材料O形圈进行了原子氧暴露、紫外线辐射实验研究;利用测压法进行了O形圈在原子氧暴露及紫外线辐射前后的泄漏率比对实验,并对实验前后O形圈进行了扫描电镜分析。实验表明:原子氧和紫外线辐射对O形圈的表面状况及泄漏率均有明显影响。 相似文献
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使用原子氧效应地面模拟设备对硅橡胶材料O型圈进行了原子氧暴露实验;用测压法进行了O型圈在原子氧暴露前后的泄漏率比对实验,并对实验前后O型圈表面形貌特征作了扫描电镜分析.实验表明:原子氧对O型圈表面有很大的剥蚀效应;O型圈经过原子氧暴露后,质量减少、泄漏率明显增大;暴露时间越长,表面形貌受到的损坏越严重、质量减少量越多,泄漏率也就越大. 相似文献
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