晶体管h参数微变等效电路的研究

晶体管h参数微变等效电路是电子技术中求解低频、小信号放大电路常用的分析方法.本文通过具体分析,将模拟放大电路进行了新的分类,并且明确而系统地给出运用微变等效电路求解各类模拟放大电路动态指标Av、ri和γ0公式、解题难点及规律.     

石墨含量对PEEK基复合涂层性能的影响

利用石墨和聚四氟乙烯(PTFE)对聚醚醚酮(PEEK)进行混杂改性,控制PTFE和PEEK的质量比不变,通过冷压烧结的方法在不锈钢表面制备不同石墨质量分数的PEEK基复合涂层,研究石墨含量对涂层力学和摩擦性能的影响。结果表明:随着石墨质量分数的增多,PEEK基复合涂层的结晶度逐渐下降,涂层的硬度先增高后降低,摩擦因数不断降低,磨损率先降低后上升。在石墨质量分数为4%时,硬度最高21.78HV,摩擦因数为0.0461,磨损率最低为2.06×10~(-6)mm~3/(N·m),这与之前的研究相比,涂层的耐磨性得到大幅提高。但是过高的石墨质量分数会使分子链柔顺性下降、链段运动降低,涂层的耐磨性大大降低。     

图论模型与算法在航天器下行数据故障诊断知识循环依赖缺陷检测中的应用

针对中国空间站等航天器下行数据故障诊断系统中循环依赖的诊断知识缺陷,通过引入图论模型,将诊断知识中的循环依赖检测问题抽象为有向图中的环搜索问题,应用经典拓扑排序算法、Kosaraju算法和Tarjan算法开展诊断知识的缺陷检测,并结合诊断知识经常迭代更新的特点,提出了一种改进Tarjan算法。仿真结果表明：改进Tarjan算法比Tarjan算法能节省更多的计算开销。     

焊接残余应力盲孔测量精度的三维模拟

基于三维有限元分析方法,研究了应变释放系数与孔深、主应力和应变花方向夹角以及双轴比之间的关系.采用三维有限元方法对应变释放系数进行了修正,并通过修正系数对焊接残余应力进行了修正,修正后的残余应力分布更趋于合理.     

基于收缩场学习的Retinex低照度图像增强

为增强低照度图像和抑制噪声，提出了一种通过学习收缩场（SF）改进Retinex分解的图像增强方法。首先，构造新的目标函数，在正则项中引入2组不同的高阶滤波器分别约束未知的反射图和照明图。高阶滤波器可以学习到多种激活模式，有利于在恢复反射图的同时抑制噪声污染。然后，在优化目标函数时通过求解收缩场更新隐变量，参数化的压缩函数可以自适应地调整相应滤波器在反射图和照明图上的响应。最后，在每个级联内更新照明图之前，嵌入一个辅助的收缩场，以抑制噪声和不良伪影的传播，从而更精确地估计照明图。实验结果表明，所提方法取得的峰值信噪比（PSNR）和结构相似性（SSIM）均高于当前最新的低照度图像增强方法。      

论我国高师矩阵结构课程体系的有效性

本从结构、课程设置和课程内容等方面分析了我国高师现行课程体系存在的缺陷，进而提出横向模块、纵向两系列的高师矩阵结构课程体系的基本思路和组成框架。重点从理论上实践上的合理性和统一性等方面分析了矩阵结构课程体系的有效性。     

晶体管h参数微变等电路的研究

晶体管h参数微变等效电路是电子技术中求解低频，小信号放大电路常有的分析方法，本文通过具体分析，将模拟放大电路进行了新的分类，并且明确而系统地给出运用微变等效电路求解各类模拟放大电路动态指标Av,ri和r0公式，解题难点及规律。     

航天遥感电子学单机产品重点检验环节复查方法

生产过程的产品质量控制直接关系到产品的质量、成本以及生产效率等,文章通过对以往生产过程中不合格品的统计和分析,提出了一种航天遥感电子学单机产品检验过程重点环节复查的工作方法。复查工作流程从重点检验环节的确认、检验要求的提取、质量记录的提取及整理、组织级审查等过程开展论述。对重点检验环节的复查工作实践表明,通过复查可以正向促进生产人员和检验人员更加严格地执行工艺纪律,不断改进检验检测工作的有效性,降低或者消除产品质量风险与隐患,同时也可以反向改进产品设计,优化工艺流程,实现航天产品高质量发展的目标。     

正确理解光电效应中的阈能

本简要叙述了光电效应产生的微观机理，用反证法证明了光子与自由电子之间不能发生光电效应，从而说明了影响光电效应截面的因素，指出电子的束缚能越大，光电效应截面就越大，并指出阈能只具有统计意义。