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针对电场探头在高场强下的校准需求,本文提出了利用混响室开展电场探头校准,介绍了基于混响室的电场探头校准原理和校准方法,解决了200V/m以上高场强环境下电场探头的校准问题,并与微波场强标准中的测量结果进行了对比分析。两组测量结果具有较好的一致性。 相似文献
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