BRAM存储器EDAC容错技术可靠性分析

SRAM型FPGA内部高密度BRAM存储模块作为用户存储资源,在空间运行中易受单粒子翻转效应影响,造成用户数据失效,EDAC技术被广泛采用作为其容错手段.对于商用型SRAM - FPGA,编码/解码模块可靠性对EDAC容错技术有效性具有很大影响,因此本文在考虑编码/解码模块可靠性影响情况下,对商用SRAM - FPGA...     

面向广域场景的可见光-SAR遥感图像匹配方法

可见光-SAR（合成孔径雷达）遥感图像的高精度匹配是视觉导航、图像融合等典型遥感应用的基础,现有匹配方法主要聚焦在非线性辐射失真（NRD）等成像差异的问题,并未充分考虑遥感图像的场景差异,导致匹配方法的场景适应性有限。为解决可见光-SAR图像匹配中成像场景广域多样、成像差异等挑战,文章提出了一种结合遥感图像场景分类的广域场景异源图像的匹配方法。该方法首先使用广域图像匹配场景分类算法按照纹理特征对遥感图像进行四个典型场景（重复纹理、非均匀纹理、弱纹理和混合类别）的分类,然后在统一的特征匹配框架中为每类场景选择合适特征描述符。将该方法在异源图像匹配数据集上与两种常用的可见光-SAR匹配方法进行比较,通过实验验证,文章的方法可以在不增加计算时间的前提下,在所有类别上取得最优的匹配结果。该方法为广域场景下的可见光-SAR遥感图像匹配提供了一种可行的解决方法。     

SRAM型FPGA单粒子效应逐位翻转故障注入方法

针对SRAM(Static Random Access Memory)型FPGA(Field Programmable Gate Array)空间应用的可靠性评测问题,提出一种逐位翻转的故障注入试验方法,利用动态重配置技术,通过检测逻辑电路设计配置存储单元中的单粒子翻转敏感位数量和位置,可计算出动态翻转截面和失效率,绘出可靠度变化曲线.分别对采用TMR(Triple Modular Redundancy)防护设计的和未采用TMR防护设计的SRAM型FPGA乘法器模块进行了故障注入试验,验证了得到的敏感位位置的正确性,并计算出各自的可靠性参数和曲线.