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以中国空间技术研究院电子元器件可靠性中心1987~1990四个年度数百份失效分析报告为依据,得到卫星用半导体器件解剖前失效模式分布:逻辑失控占36.3%,开路占22.2%等;失效机理分布:铝腐蚀占1 6.3%,使用不当占14.6%等。该项研究以第一手数据首次全面、系统指出卫星用器件失效模式和机理。为卫星可靠性设计、优选器件厂及器件厂采取措施提供重要依据。 相似文献
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空间级元器件及过程确认文件 总被引:1,自引:0,他引:1
阐明了空间级元器件的定义、品质的6个特性及与宇航元器件的关系,从不同视角提出了PID的定义,探讨了PID与ISO9000质量管理体系以及国军标元器件质量保证大纲的关系,总结出在中国应用PID的原则,PID是实现空间级元器件的关键工具。 相似文献
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半导体器件内部铝腐蚀是卫星用半导体器件主要的失效模式之一,快速准确地判断铝腐蚀具有重要意义。文章给出了判别方法和程序,并对方法中的关键技术进行研讨。 相似文献
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