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高速A/D变换的性能主要取决于其动态特性;这种动态特性不能用静态特性替代或推论。随着近年来高速A/D的迅速发展(采样率高达数百兆赫的A/D也已进入市场),如何测试高速A/D的动态特性,已成为当务之急。本文提出一个高速A/D变换测试系统以填补国内空白。文中介绍其工作原理,以及三种动态特性表征方法——直方图法、等效位数法以及谱分析法。文末还讨论了测试系统研制中的一些关键技术。 相似文献
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