应用于风洞密度场测量的双全息术

当今,脉冲双曝光全息术已普遍应用于高速风洞流场参量的探测。它是在一张全息底片上记录流场处于两个瞬态的全息图。如果在两次曝光之间,参与记录的所有元件不发生相对位移,则再现干涉图将准确地反映其相对参量。但在风洞试验中,由于吹风时振动的强烈干扰,很难避免这些元件不受扰动,致使干涉图上掺进离散背景条纹而失真。