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美军标MIL -STD -883,原名微电子器件试验方法和程序。从 1 968年问世以来 ,对微电子器件可靠性的提高起着重要的作用。众所周知 ,在军用电子系统中对可靠性要求最高的是微电子器件。为适应微电子器件这种特殊“地位” ,美国国防部每年都投入大量的人力物力进行研究。因此 ,该标准几乎每年都会作 1次甚至 2次重大修改 ,并以“通告”形式发布。如此频繁的修改、补充现象在美军标中也极为罕见。这充分反映美国国防部对军用微电子器件可靠性的高度重视。也正因为重视对该标准的研究、修改和补充 ,使该标准 30多年来始终能对微电子器件的…  相似文献   
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