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静电放电(ESD)的测试与ESD引起元器件失效的机理 总被引:1,自引:0,他引:1
谢易祥 《航空精密制造技术》1997,(3)
综述了辐射引起的ESD的预测,直接放电的ESD的预测.这些预测包括静电场、在敏感电路上的感应电压、在电线上ESD感应电压等的预测.同时还介绍了合适的屏蔽方法以改善ESD的影响以及引起元器件失效的机理. 相似文献
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