弹上电子设备小结构体屏效测试与优化

针对弹上小尺寸结构体由于尺寸原因导致屏蔽效能难以量化评价的问题,提出了两种小尺寸屏蔽体屏蔽效能的测量方法:辐射发射法、辐射敏感度法。在研究测试方法的基础上,进行了屏蔽体屏蔽效能优化的工作,采用改变搭接型式、改进涂敷工艺等方法,以改善屏蔽体的屏效,并测试验证优化效果。