怎样消除半导体器件的早期故障

一个理想的半导体器件,若处置得当,且按照规范使用,它永远不会损坏。因为半导体器件完全靠电子工作,不存在会磨损的活动部件;而且在正常使用期间,不消耗任何半导体材料。但是,实际上所有的半导体器件均含有最终能导致故障的制造缺陷。其中多数只有轻微的缺陷,它们有较长的使用期(可能超过50年)。但是,交给使用者的常用半导休器件中,约有1%存在着导致早期失效的缺陷。这样的半导体器件,通常在使用的第一年内就失效。它是造成电路早期失灵及电子设备损坏的主要原因。好在有一种方法,可把它们在装机使用之前就检测出来,这就是应力试验法。     

航空仪表试验时的蜂鸣振动

蜂鸣,顾名思义,似蜂的嗡鸣声。通常是指频率近似在100～500赫兹之间的振荡。例如,电信用的蜂响器发出的声响,就是蜂鸣。一般以分贝表示蜂鸣的大小。     

带减震装置仪表的振动试验

HB 6-76-76《航空仪表通用技术条件》第18、19条规定:带减震器的产品在按表11第2类的振动参数作振动试验时,应将减震器连同产品一起紧固在振动台上试验。贯彻标准的过程中,对此规定的理解不一,现解释如下。     

产品的谐振及谐振频率的鉴别

设计航空仪表时,通常总希望将产品的谐振点移到规定的频率范围之外。但是,实际上由于产品各零部件的间隙、刚度及材料等不同,往往不易将产品及其零部件的所有谐振点全部移到规定的频率范围以外。为此,HB6—76—76《航空仪表通用技术条件》第18条抗振稳定性试验中增加了寻找谐振点的内容(详见该标准)。