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1.
夫琅和费衍射—干涉条纹在精密测角仪上的应用
林莹
《航空计测技术》
1995,15(4):29-31
在精密测角仪设计中应用了夫琅和费衍射光栅系统,通过理论分析和对光学系统的改进,已调了视场均匀,条纹清晰,对比度好的衍射-干涉条纹,为多路合成获得高精度的衍射-干涉条纹及电路进行800倍细分,奠定了良好基础。
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