非金属材料及电子元器件霉菌试验方法研究

本文叙述了航天产品上使用的非金属材料及电子元器件的霉菌试验方法的研究。本试验将350多件产品上使用的主要非金属材料及电子元器件送往五个地区进行了为期两年的贮存。先后共采集了菌株2716株,经过分析研究选出其中的8个菌种做为试验用菌种。根据航天产品的使用特点,提出了评定生霉等级的办法。国外有关标准规定在放大50倍下观察来评定生霉等级,这在实际工作中难以实施,而国内的有关标准中只规定用肉眼观察,误差较大。本试验方法中规定在放大4倍下观察,它既实用又保证了等级评定的质量。