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1
1.
测量超光滑表面粗糙度参数的反散射计算研究
曹麟祥
张家喜
《宇航计测技术》
1993,12(2):1-3,57
介绍一种高分辨力、无接触式测量超光滑表面粗糙度参数的反散射计算测量技术。实现该技术的测量装置的角分辨力为0.1°。它可以测量导体或非导体表面纳米级精确度的粗糙度。
相似文献
2.
用光探测器测量激光陀螺反射镜的前后向散射——研究表面粗糙及波度对散射的影响
曹麟祥
林谦
王红
张家喜
《航空精密制造技术》
1993,(5)
研究了激光陀螺反射镜基片表面粗糙度和波度前、后向散射的测量计算及其对散射的影响。研究结果表明:在同样的精度下,表面粗糙度比波度对散射的影响更大.因此.提高表面粗糙度的精度是降低激光陀螺反射镜或其它超高反射率镜面散射损耗的主要途径。
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