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71.
飞秒光学频率梳测距技术的研究进展   总被引:2,自引:0,他引:2  
飞秒光学频率梳测距技术以其快速、高准确度等优点已经成为国际研究热点。该技术有望广泛应用于大规模制造、卫星编队飞行等测距任务。文中介绍了飞秒光学频率梳测距技术的国内外进展,阐述了飞秒光学频率梳目前的主要测距方法,分析了各种飞秒光学频率梳测距技术的原理、技术方法的优缺点、测距结果的影响因素及技术应用范围,并对飞秒光学频率梳测距未来的发展趋势作了阐述。  相似文献   
72.
共形光学整流罩在保证系统光学指标的前提下,还能够平滑地与其结构外形融为一体从而提高飞行器的空气动力学性能,但是共形光学整流罩的非常规形状给光学加工和检测技术带来了极大的挑战.因此共形光学整流罩的光学制造是高速飞行器的关键技术之一.本文首先分析了共形光学整流罩的优势,加工和检测技术的难点,介绍了现有的加工和检测方法,最后...  相似文献   
73.
在FL-26跨声速风洞半模试验段进行了某高速飞机T型尾翼颤振模型的光学测量实验,并依据测量结果解算了尾翼颤振模型的弯扭特性。颤振模型表面用白色圆点进行标记,用于记录模型表面的位移变化,两台固定在风洞试验段上壁板观察孔旁肋板上的400万像素工业相机用来采集图像,采集到的图像通过自主开发的图像解算软件进行图像的识别与求解,计算出尾翼颤振模型表面标记点的三维坐标。模型表面标记点的三维坐标通过坐标变化转换到风洞气流坐标系中,利用不同时刻模型表面坐标的变化计算模型剖面扭角和弹性轴位移的分布。T型尾翼右平尾图像采集实验与弯扭特性计算结果表明,非接触光学测量技术可以用于高速颤振试验的定量分析中。  相似文献   
74.
魏麟  彭卫  彭卫东  陈客松 《航空学报》2012,33(8):1508-1514
为了简化雷达系统硬件设计和降低成本,可以使用多个窄带成分来合成宽带信号,从而获得满足实际需要的合成距离像。针对合成宽带信号和雷达阵列的特点,详细分析了结合合成宽带信号及传统空域滤波器组情况下所合成距离像的失真原因,指出合成距离像的失真由形状变形和位置平移两部分组成,且这两种失真分别由各个空域滤波器输出幅度和相位的波动所引起。同时,推导出计算对应相位和幅度失真度的理论公式,并由此给出了当合成距离像存在可接受失真时阵列的临界条件。计算机数值仿真结果验证了以上结论。  相似文献   
75.
基于LabVIEW的超精密磨床嵌入式监控系统   总被引:1,自引:0,他引:1  
针对超精密磨削机床的监控需求,基于NI–sbRIO硬件平台开发了一套应用于超精密磨床状态监测和数据采集的嵌入式监控系统,使用FPGA对温度、振动、声发射等信息进行实时数据采集,并使用实时处理器对数据进行分析和处理,实现对机床的实时状态监测和数据存储。通过FPGA编程取代硬件数据采集卡,成本低,灵活性强。试验表明,该系统能够胜任超精密磨床的监控任务。  相似文献   
76.
文章简要地叙述碳纤维复合材料刚性太阳电池阵基板的结构设计,理论分析,模态试验和振动试验。理论分析和试验结果比较一致。通过试验还解决了基板各种复合材料的力学性能测试问题,取得了必要的数据。  相似文献   
77.
介绍一种新的激光准直系统,该系统通过单模光纤建立新的光发射基准,从而有效地抑制了由于激光腔热变形而产生的光束漂移。另外,该系统采用了标量卡尔曼数字滤波器耒降低大气扰动和其他环境因素对测量的影响,在2.5m的测量范围内,系统稳定性可以控制在±1.5μm以下。该系统适用于作为形状误差和运动误差测量时的直线基准。  相似文献   
78.
研发了微型压力传感器并构成柔性衬底基阵列,直接置于翼型外表面实现压力分布测量.结合传感器特性和气动测量需求,设计了压力传感器阵列恒流驱动电路和差分滤波电路,并通过LabVIEW调用所开发的MAT-LAB的应用程序实现了数据的在线处理和实时显示.结合NACA0012翼型对该测压系统进行了低速风洞实验.对其有效进行了初步验证.  相似文献   
79.
本文以三块各向正交异性矩形板组成的卫星帆板为研究对象,首次利用半解析方法研究了其横向弯曲的问题。就板间连接处复杂的边界条件,提出了与之对应的挠度函数形式。在此基础上采用相同形式的挠度函数求出了帆板在各种横向外载荷作用下的挠度,为解决多板连接结构的弯曲问题提供了一种有别于以往数值方法的新思路。  相似文献   
80.
非接触光测物体大位移研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
提出了一种非接触光学法-单光栅双图像法测量物体位移的新技术,利用两个正交的图像记录系统,在试件作大位移后,记录被平行多光束照射形成的光点所覆盖的试件的图像,借助于记录光路系统几何表数,可建立一联立方程组。解此方程组,就可得到被测物体上诸光点所表示的测点的位移大小和坐标值,文中还论述了度件图上测点位置的确定和修正方法,导出了被测物休图像负片上测点的实际坐标的计算公式,实验结果证明,本文提出的测量理论是正确的。  相似文献   
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