高密度粒子场全息测试中粒子间相互作用的研究

本文用圆盘粒子模型对粒子场中粒子间相互作用作了定量计算,得出高密度粒子场中的大粒子效应及全息记录中的全息图效应等结论,由于这些效应的存在,使得在分析处理粒子场时,会出现小粒子丢失,从而给粒子场的统计分布特性分析提供了重要的理论依据。     

全息干涉法对温度场下物体振动的研究

本文用激光全息的时间平均法研究了悬臂矩形平板在线性稳定温度场下的振动,得到了悬臂矩形平板在不同温度场下的振动固有频率和振型。实验表明,温度不仅影响物体振动的固有频率,而且也影响物体的振型。     

一种全息滤波用于粒子场层析的方法

本文介绍用4F傅里叶透镜系统和全息滤波器对粒子场分布作全息记录的原理和方法。理论和实验结果表明,这种记录方法能同时准确记录位于输入平面和在其前、后相同距离平面上的粒子分布,并能根据清晰的粒子像直接判读出粒子尺寸和空间位置。若应用不同的全息滤波器,就能在输出平面上记录与滤波器相匹配的三个层次平面上的粒子分布。这种用4F系统的全息滤波记录方法,实质上是用全息术测量粒子场分布的层析法。文中还介绍了制作这种全息滤波器的原理和方法。     

双波长全息干涉术的实验研究

双波长全息干涉术利用激光器发出的两个或两个以上不同的波长对物体拍摄全息干涉图,相当于用一个等效波长λeq对物体进行干涉测量,从而扩大了测量范围。在改进的泰曼干涉系统中，采用双曝光法双波长全息干涉术对一个抛物面反射镜的面形进行了补偿法检验，最终得到的干涉图样易于分析和判读。实验表明，对于光学元件的面形检验，尤其是非球面元件的面形检验，双波长全息干涉术是一种可行的测量新方法。     

干版运动调制光束双曝光全息

本文研究干版运动对记录光束的调制作用及其对双曝光全息测量的影响,推导了干版运动调制光束双曝光干涉图的光强分布数学表达式,在对这种调制干涉条纹形成理论的研究基础上,提出了有干版运动时被测物体三维位移场的全息分析法,其中干版的位移用参考物体法确定。     

三维位移场测量的贴片云纹干涉法

三维位移场测量的贴片云纹干涉法是用多束准直相干光同时入射到贴有全息胶片的试件表面,并记录由其相互干涉形成的三组频率不同、方向不同的全息光栅。若对试件加载前后两次曝光,可得到含有试件三维位移场(u,v,w)的三组云纹图。利用光栅衍射方向的差异,容易在三个彼此分开的方向上观察到三组云纹,由此可定量分析试件的三维位移,无需进行复杂的光学滤波处理。文中给出了严格的理论推导和实验验证。     

激光全息图像测量自动条纹计数

 在图像测最中,干涉条纹图像并不代表定最结果,而其中的各干涉条纹所具有的条纹级数则是精确测试计量的唯一重要依据。条纹图像判读的主要任务就是条纹计数,即经过识别对各条纹赋以条纹级数,使定性的条纹分布转化为定量的形式。 判读条纹图像有多种方法,如人工判读、机械扫描式判读和数字条纹图像判读处理。     

金属蜂窝构件光学方法的无损检测研究

用理论和实验分析比较了全息干涉术和剪切散斑干涉术对金属蜂窝构件的无损检测。并从理论上推导了剪切散斑干涉条纹的强度分布,证明了随着加载量的增大,条纹变密的程度较全息干涉条纹缓慢。剪切散斑干涉条纹灵敏度只有较大的可调性,加载范围大为加宽。实验观察与理论分析一致。     

转动干版的平面波多光束全息干涉计量的研究

本文提出了一种转动干版的多光束全息干涉计量术，用于测量试件的三维振幅场，该全息干涉计量术采用的光路系统具有空间分布的三束平面波物光和一束平面波参考光，它借助于一个可使干版作任意角度转动的特殊装置，在一张干版上记录振动体同一谐振频率的三个独立的时间平均全息图，再现时，该干版用原参考光照射，并分别转到记录时的三个原始位置，则可得到三个时间平均干涉图，利用有关的物理模型，便可导出求解被测物体上任一点的振     

光学干涉技术定量显示双马赫反射的密度场

本文介绍了对激波管流动采用两次曝光全息干涉、M-Z 干涉和差分干涉三种技术所获得的双马赫反射二维密度场的定量测量结果,并与数值计算结果作了比较,两者十分吻合。