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用软件包和FOM方法分别计算了BX1750A芯片在三种太阳同步轨道以及不同宇宙环境下的单粒子翻转率。根据器件及单片机系统在轨单粒子翻转率与“零翻转”可靠度的关系,量化地评估了该芯片及所属系统应用于不同飞行任务时的抗单粒子翻转(SEU)性能。分析结果表明,BX1750A芯片抗单粒子效应的性能较高,可作为低太阳同步轨道3年或5年寿命卫星关键计算机系统的选用芯片。同时为确保系统SEU零失效,有必要采取软件和其他加固措施。 相似文献
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仿真基加速寿命试验优化设计方法研究 总被引:2,自引:0,他引:2
加速寿命试验可在较短时间内获得产品的可靠性信息,如何设计试验方案使加速寿命试验的结果最准确、代价最小,是加速寿命试验方案设计的一个主要问题。针对加速寿命试验解析优化方法在某些场合最优解的解析形式难以得到甚至不存在的情况,提出了一种新的基于Monte Carlo仿真的加速寿命试验优化设计方法。该方法通用性好、适用范围广。Monte Carlo方法通过大量的重复模拟试验得到问题的近似解,但要得到更精确的近似解,模拟试验的次数必须增多,因而所需要的计算量增大。利用目标函数的连续性,将非参数化曲面拟合引入优化过程,使计算量大大下降,满足了工程应用的要求。算例的结果说明了本文提出方法的正确性与有效性,敏感性分析结果表明该方法具有一定的鲁棒性。 相似文献