反射面的轴向电磁散射及外形优化

本文联合运用几何光学和等效电磁流法,导出了金属反射面轴向散射场和雷达截面(RCS)的简洁表达式,研究了从旋转二次曲面(凹面或凸面)中寻找具有最低RCS值的曲面形状优化方法,给出了一个典型实例的单站RCS立体分布图,以及最低RCS值所对应的波谷曲线和最佳表面参数。     

航天雷达高度表

介绍几种航天雷达高度表，其中包括弹载雷达高度表、“土星”雷达高度表和“天空实验室”雷达高度表，最后介绍一种卫星雷达高度表的设计方法。     

星载合成孔径雷达回波多普勒频率的计算

从星载合成孔径雷达（ＳＡＲ）与目标的相对运动关系出发，以ＳＡＲ发射信号的波长、卫星的轨道参数和目标的位置（地心经纬度）为已知条件，导出了计算目标回小以的多普勒频率的解析公式，这对于星载ＳＡＲ系统的性能 初步设计具有重要作用。     

连续逻辑DYL电路在测试系统中的应用

本文利用DYL多元逻辑电路的特点,提出求极值和中间值的“地址”的方法和电路。使DYL多元逻辑电路的应用更加完善。     

基于偏差信息的星载计算机系统负载平衡算法的研究

相邻结点负载平衡算法具有计算简单、额外开销小的优点。但由于采用局部的观点平衡负载，限制了结点信息得到的范围，使得系统在某种情况下达不到全局平衡，本文提出了基于偏差信息的星载计算机系统负载平衡算法，它改变了结点传递的实际负载信息，使修改后的负载信息能体现出结点及其周边结点的负载形势，以此弥补了相邻结点负载平衡算法的不足，并将其应用在星载计算机系统上，首先，介绍了相邻结点负载平衡算法及其存在的不足；其次，描述了基于偏差信息的星载计算机系统负载平衡算法，最后，通过仿真实验，给出了这种算法同其它几种负载平衡算法的比较，并证明了它的正确性与可行性。     

电路特性仿真软件OrCAD／Pspice的应用

本文通过实例介绍了电路仿真特性软件OrCAD／Pspice在模拟电路、数字电路及数模混合电路几方面的应用。     

多普勒雷达导引头信号处理技术

概述防空导弹多普勒雷达导引头信号的基本形式、主要特点、检测原理及其滤波系统；介绍了多普勒雷达导引头信号处理的一些常用技术。     

关于多普勒频率转换成距离变化率公式的讨论

利用多普勒效应原理对雷达测速的转换公式进行了讨论，指出在飞行器高精度轨道测量中，现行的测速转换公式存在较大的误差；给出了新的包含二阶项的测速转换公式，并导出了一个简便实用的直接在测量数据上进行该项误差修正的方法，同时进行了误差特性分析。实际计算表明：轨道测量数据进行二次修正后，匹配程度明显优于修正前。     

Calibration of the MERIC full-polarimetric radar: theory and implementation

This paper describes the architecture and calibration design of the experimental ground based radar station MERIC. This full-polarimetric radar is conceived for the analysis and the recognition of non cooperative aircraft in flight.We carefully study how the full-polarimetric capability is obtained for a simultaneous transmit (simultaneous transmission of two linear FM with opposite slopes) radar system, using analogue deramping with a replica.The phase distortions of the signal propagating in the four polarimetric channels are carefully estimated. We define a phase calibrating method compatible with the outdoor measurements conditions and few constraints on reference targets.We show the phase accuracy obtained with the proposed calibration method on real measurements.     

国产双极工艺线性电路低剂量率辐照效应评估方法

国产双极工艺元器件应用于航天型号存在低剂量率辐射损伤增强效应风险,需要对其开展低剂量率辐照试验评估。在0.01 rad(Si)/s低剂量率辐照条件下,测试分析了不同工艺器件对不同偏置条件的敏感性差异;对比0.1 rad(Si)/s辐照试验结果,分析了器件的低剂量率辐射损伤增强效应特性,建立了辐射损伤增强因子和参数判据法相结合的评价标准;依据此标准讨论了各型号器件的低剂量率辐射增强敏感度以及抗电离总剂量辐射的能力。