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72.
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新型的可编程逻辑器件(PLD)已经显著改变了数字系统的设计过程,且超高速集成电路硬件描述语言(VHDL)在设计流程中的作用日益显著,简要讨论在PLD的VHDL设计中的一些注意事项,以期提高VHDL编码的效率和精确度。 相似文献
74.
为了将机载设备的故障检测定位至器件级,研制了ARINC429手动发码器,通过以可编程逻辑器件为核心单元的硬件电路实现了ARINC429信息的输出,完成了样机设计,并已投入使用. 相似文献
75.
76.
从20世纪90年代起,纳米技术得到迅速发展,它已成为新世纪信息时代的核心。发展纳米技术是国防科技与武器装备保持长远、持续发展以及实现跨越式发展的一次新的机遇。纳米技术在导弹武器系统上的应用有着广阔的前景。 相似文献
78.
天文摄影历来给人以高不可攀的感觉——传统的天文摄影几乎都是专业天文学家通过专业的大望远镜拍摄的,使用的记录方式不是极为少见的干板盒,就是异常昂贵的专业CCD。现在,这种情况正悄悄地发生着改变:只因为我们手中有了新式武器——数码相机。 相似文献
79.
为探究先进互补金属氧化物半导体(CMOS)工艺在空间应用中的可靠性问题,研究14 nm工艺下P型沟道鳍式场效应晶体管(pFinFET)器件中的抗单粒子瞬态(SET)加固策略。通过在器件中插入平行于鳍方向的重掺杂N型沟槽(Ntie)和P型沟槽(Ptie)来减缓SET的影响。三维TCAD仿真结果表明:加固之后器件的抗SET特性和沟槽本身的偏置条件相关。当重掺杂沟槽处于零偏状态时,抗辐射加固的性能最好,SET脉冲宽度降低程度可达40%左右;然而,当处于反偏状态时,由于特殊的电荷收集过程的存在,使得SET脉冲幅度反而会明显增大,脉冲宽度减小程度并不明显。此外,还研究沟槽面积、间距及掺杂浓度对pFinFET中的SET脉冲宽度的影响,得到提高抗SET效果的加固方法。 相似文献
80.
为了保证微小卫星高分辨率遥感器相机的成像品质,需控制焦面组件的温度水平及温度稳定性,特别是焦面CCD光学探测器件的温度控制。首先提出以相变储能与超低刚度柔性导热索相结合的焦面组件精密热控方法,对相变储能装置与石墨柔性导热索的设计及参数选取进行详细介绍;然后,建立焦面组件的热仿真模型并进行温度计算;最后,在真空环境下进行了热试验。计算与试验结果表明,焦面CCD器件长期温度为15~18.5℃,工作温升速率为0.33℃/min,具有良好的温度水平与温度稳定性;热控补偿功率≤4.8 W,约为焦面组件发热功率的1/10,可节省卫星能源消耗,验证了焦面组件热控制方法的正确性。 相似文献