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261.
262.
以1mm厚Ti-6Al-4V合金薄板为对象,运用光学金相显微镜、电子探针、扫描电子显微镜、氮氢氧联合分析仪、显微维氏硬度计,研究了特定累积线能量下90°弯曲角弯折区显微组织。结果表明,弯折区组织与累积线能量输入有关,当累积线能量在适当范围时,材料堆积增厚,极表层出现轻微复熔铸态组织,上层为板条马氏体α′,中层为针状马氏体α′,底层为长大粗化的(α+β)组织;距表层约0.2mm范围吸收间隙元素强烈致使硬度急剧提高并呈明显梯度;累积线能量输入过大,弯折区出现大面积复熔铸态组织并伴有裂纹产生。 相似文献
263.
264.
A400M军用运输机特殊的任务要求对其增升装置设计提出了很大挑战,设计人员通过多种创新设计和技术,使之能在较宽飞行包线范围内飞行并具有优异的作战使用性能。其中,采用CFD方法和风洞试验验证相结合的设计手段,设计出的下垂铰链式固定导流片增升装置,它是该机创新设计的亮点之一。 相似文献
265.
舰载预警机复飞时,需要通过加大发动机推力提高飞行速度,从而增加其升力以使航迹下沉量减少,避免与舰尾相撞。在分析舰载预警机复飞准则的基础上,通过建立舰载预警机着舰复飞时的非线性动力学方程,计算分析了不同速度、不同下沉率时舰载预警机的复飞轨迹和复飞边界。仿真结果表明:适当的复飞决策距离和较大的发动机推力,可保证舰载预警机安全复飞。 相似文献
266.
任意曲面上射线的寻迹方法 总被引:1,自引:1,他引:0
为计算任意曲面上天线间的隔离度,提出一种射线寻迹的新算法——最小夹角法.首先对任意曲面表面进行三角形网格剖分,并按照文中要求的格式生成模型表面网格数据;用文中提出的"最小夹角法"对上述网格数据进行处理,从而达到快速准确地找出任意曲面上、任意两点间的短程线.求解了位于圆柱体、椭球体及任意组合体上任意两点间的短程线长度,验证了"最小夹角法"的准确性. 相似文献
267.
268.
飘降分析是民用飞机性能计算中的重要内容,目前波音飞机性能手册中只提供飞机的飘降净轨迹,本研究用计算机FORTRAN90语言编制程序实现了积分计算,以B757—200/RB211-535E4为算例对飘降总轨迹做了计算,并分析了温度、飞机重量、初始巡航高度等因素对飞机飘降总轨迹的影响。 相似文献
269.
由于飞行状态姿态复杂多变,座舱显示系统的画面也要求动态、实时、清晰。为了有效解决这些问题,提出了刻度线的快速反走样算法。该算法适用于任何直线的反走样绘制,且响应速度快、效果好。文章主要从图形走样产生的根本原因出发,提出了利用算法来消除走样现象,给出了较详细的数学推导,并将此算法应用于罗盘刻度线的生成,效果明显。 相似文献
270.
SRAM FPGA电离辐射效应试验研究 总被引:1,自引:0,他引:1
针对SRAM FPGA空间应用日益增多,以100万门SRAM FPGA为样品,进行了单粒子效应和电离总剂量效应辐照试验。单粒子试验结果是:试验用粒子最小LET为1.66 MeV·cm2/mg,出现SEU(单粒子翻转);LET为4.17 MeV·cm2/mg,出现SEFI(单粒子功能中断),通过重新配置,样品功能恢复正常;LET在1.66~64.8 MeV?cm2/mg范围内,未出现SEL(单粒子锁定);试验发现,随SEU数量的累积,样品功耗电流会随之增加,对样品进行重新配置,电流恢复正常。电离总剂量辐照试验结果是:辐照总剂量75 krad(Si)时,2只样品功能正常,功耗电流未见明显变化。辐照到87 krad(Si)时,样品出现功能失效。试验表明SRAM FPGA属于SEU敏感的器件,且存在SEFI。SEU和SEFI会破坏器件功能,导致系统故障。空间应用SRAM FPGA必须进行抗单粒子加固设计,推荐的加固方法是三模冗余(TMR)配合定时重新配置(Scrubbing)。关键部位如控制系统慎用SRAM FPGA。 相似文献