串置双五分量天平的研制

本文介绍风洞应变天平中首次研制成功的一台串置双五分量天平。串置双天平由一块钢材制成。O_1天平固定在 O_2天平的受力端。O_2天平既能测量左平尾载荷,又能传递由 O_1天平测量的右平尾载荷。正确分析两台天平的受力传力路线和弹性变形的综合位移量,用严谨的数学公式描述两台天平测量的力和传递的力。对这两种力进行数学分解,形成数学模型,写出天平静校公式的数学表达式,并据此研制天平静校设备,分析天平在各分力作用下的弹性位移,写出弹性角公式。上述各点是串置双天平的核心问题。最后经风洞引导性实验证明,串置双天平的原理、方案、受力分析、静校公式等都是正确的。在国内外,串置双天平第一次用于风洞实验,获得了初步成功。     

羊毛精纺织物服用性能优选的多属性模糊决策

本文应用多属性目标决策的方法,评判不同规格毛织面料的"满意度",客观地提供一个重要的优选辅助依据。     

MiG-23／27“鞭鞑者”系列战斗机PART.1

被西方称之为“鞭鞑者”（Flogger)的MiG-23是米格家族里的第三款声速战斗机，与MiG-25同属俄制第三代战斗机，虽然它的制造数量和知名度不如其前辈MiG-21“鱼窝”（Fishbed)系列，不过，作为第一款变后掠翼俄制战斗机，加上得MiG-23系列高达5047架的总生产量、出口超过2000架、20余个国家使用等优异纪录，使得“鞭鞑者”战斗机在现代战斗机发展史中占有着重要地位。     

光学太阳反射器的性能评价试验规范

航天器在地面待发射期间和空间实际飞行过程中，热控元件光学太阳反射器要遇到各种地面和空间环境，为了航天器的可靠和长寿命，必须对所制备的ＯＳＲ涂层进行各种地面和空间环境试验并对其各项性能检验与考核，该文就这一系列试验的目的和规范进行了讨论。     

模拟地球同步轨道辐照环境对光学太阳反射镜性能的影响

研究了模拟地球同步轨道辐照环境对卫星用温控涂层-光学太阳反射镜(OSR)性能的影响。对所研制的两类OSR 片进行的辐照试验项目有,真空紫外辐照、低能电子和两种能量的质子辐照。此外还进行了等离子体环境条件下的表面充/放电效应试验。经过相当于安装在地球同步轨道卫星南北极位置处,在空间七年所受到的电子、质子和紫外辐照总剂量的辐照后,导电型OSR 的太阳光谱吸收率α_s 由0.068增加到0.078,法向发射率ε_n 由0.83降低到0.72;而非导电型OSR的α_s 由0.066增加到0.085,ε_n 由0.82降低到0.76。表面充/放电试验的结果表明:导电型OSR 的充电电位仅在15～40V 之间,而非导电型OSR 的充电电位则可高达13kV。因此导电型OSR能有效地控制表面的充/放电现象。     

符合CCSDS标准的RS(255,223)码译码器的FPGA实现及其性能测试

RS（Reed-Solomon)码是差错控制领域中一种性能优异的非二进制分组循环码，由于它具有很强的随机错误和突发错误的纠错能力，被CCSDS，NASA，ESA等空间组织接受，广泛应用于深空探测中．本文采用改进的Berlekamp算法，用FPGA实现了符合CCSDS标准的RS(255，223)码译码器；介绍了该译码器的实现流程、性能测试方法和基于PCI总线接口的测试平台；给出了测试结果，并且对理论上RS(255，223)译码器的误码性能与实际测试的误码率结果进行了比较和分析．验证结果证明该译码器能工作在400Mbps以上的码率，使用FPGA资源180000门，译码效果与理论上译码效果一致．     

神舟2号大气密度探测器的探测结果(Ⅰ)日照和阴影区域热层大气密度变化

选用了神舟2号（SZ-2）大气密度探测器在2001年2—4月间的探测数据,进行日照和阴影区域热层大气密度变化的探讨.结果表明:在高度410km附近,日照和阴影区域大气密度变幅为2—3倍,变幅的大小与地磁活动程度呈负相关关系.日照面大气密度峰区位于星下点地方时1400—1500LT的纬度处,峰值大小与太阳活动程度呈正相关关系.阴影面大气密度谷区位于星下点地方时0400-0500的纬度处,同时在±10°纬度区域中还出现了阴影面峰区.     

防静电白色热控涂层的空间环境性能试验

通过在氧化锌晶格中掺入重金属离子，得到具有防静电功能的白色颜料，再以丙烯酸树脂为粘合剂制备出空间飞行器外表面用的ACR－1防静电白色热控涂层；研究了空间环境效应（包括紫外辐照，电子和质子辐照）对该热控涂层太阳吸收率的影响并与有机硅白色热控涂层进行了比较，地面模拟空间环境试验研究结果证明，ACR－1防静电白色热控涂层具有良好的空间稳定性。     

快速预热型铷原子振荡器的研制

介绍了一种快速预热型铷原子振荡器的设计方法和试验数据 ,3 5min的锁定时间、0 4 5L的小巧体积和良好的频率重现性能 ,非常适合于战术应用。     

利用MF雷达对耀斑期间电离层D区电子密度的观测研究

利用MF雷达观测资料对X级别耀斑爆发期间在66-80km高度之间的电子密度进行了研究，观测到了耀斑爆发期间电子密度的突然增加，在较低高度上的电子密度的时间变化趋势与耀斑的软X射线辐射通量相关．电子密度的变化强度依赖于具体的耀斑参数，有些耀斑引起的电子密度增加高达400cm^-3，有些仅为100cm^-3左右．但耀斑期间在这一高度区间增加的总电子含量增量仅占耀斑辐射引起的整个电离层总电子含量增量的千分之一左右．最后，利用恢复阶段电子密度的时间变化过程估算了1997年11月4日耀斑期间部分高度上的有效复合系数．