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781.
782.
针对耦合差分器件的散射参数测量,提出了一种使用对称反射标准件的混合模式TRL(Through-Reflect-Line)校准算法.根据过渡结构的多模散射矩阵元素之间的相位关系和散射矩阵的广义互易性,消除符号模糊性并得到过渡结构的混合模式转移矩阵.该算法要求的校准标准件类似于传统的单模式TRL算法,不需要非对称结构的反射标准件产生模式转换项.利用全波仿真方法得到了包含过渡结构的校准标准件和待测件的单模散射矩阵,并使用该算法对仿真数据进行处理,得到不包含过渡结构的待测件的混合模散射矩阵.将校准结果与不包含过渡结构的待测件的全波仿真结果进行比较,其一致性表明了该算法可有效地校准线性平衡器件. 相似文献
783.
784.
通过对环路热管结构中的铝合金和不锈钢异种金属低温软钎焊试验研究,采用锡基钎料配合活性钎剂,将铝合金表面进行预镀镍处理,镀镍层厚度10μm左右,钎焊间隙为0.2~0.5mm,钎焊温度220℃,能够获得质量和传热性能满足要求的热管钎焊结构。 相似文献
785.
简单介绍了SOC发展状况,并针对altera公司FPGA的解决方案SOPC进行重点分析,重点介绍和分析了基于NiosⅡ处理器的关键技术和设计流程以及相关软件。 相似文献
786.
SRAM型FPGA的抗SEU方法研究 总被引:3,自引:0,他引:3
通过分析静态随机访问存储器(Static Random Access Memorg,SRAM)型现场可编程门阵列(Field Programable Gate Array,FPGA)遭受空间单粒子翻转(SEU)效应的影响,并比较几种常见的抗SEU技术:三模冗余(Triple Module Redwcdancy,TMR)、纠错码(Error Correction Code,ECC)和擦洗(Scrubbing),提出了一种硬件、时间冗余相结合的基于双模块冗余比较的抗SEU设计方法。在FPGA平台上对线性反馈移位寄存器(Linear Feedback Shift Register,LFSR)逻辑进行软件仿真的抗SEU验证实现,将各种容错设计方法实现后获得的实验数据进行分析比较。结果表明,64阶LFSR的抗SEU容错开销与基于硬件的TMR方法相比,可以节省92%的冗余逻辑资源;与基于时间的TMR相比,附加时间延迟缩短26%。 相似文献
787.
788.
789.
790.
孙元福 《中国民航学院学报》1997,15(4):61-68
总结了实现最大功率的三种方式。以此为根据,对[美]蔡少棠、葛守仁教授所著之《线性与非线性电路习题与问题详解》一书中有关问题提出质疑,从理论和数学的角度指出了其中的一些原则性错误,并提出了自己的见解。 相似文献