基于分频段加权的加速振动试验方法

振动环境工程研究现行采用的加速试验方法中,都只考虑了加速因子与频率无关这种情形,这不仅提高了试验设备的推力要求,也增加了位移指标要求。文章提出了一种分频段加权的加速振动试验方法,即通过对低频段加速因子的权重的优化设计,实现较小的位移指标要求,且疲劳损伤累积等效。给出了基于Dirlik方法和TB方法疲劳损伤等效的加速试验设计方法和工程实现流程。针对该方法开展了应用实例的计算,结果表明:在疲劳损伤等效的前提下,显著降低了振动台的位移,且推力基本维持不变。     

利用微波探测仪(ATMS)对在轨微波辐射计观测精度的模拟分析

微波辐射计的观测精度及其对数值模式同化应用的影响评估是微波辐射计观测指标设计的重要参考。基于微波探测仪(ATMS)资料,利用三维变分同化系统模拟分析在轨微波辐射计的观测精度指标。针对ATMS观测误差特征,在其观测基础上增加均值为零、标准偏差分别为0.5,1.0,1.5,2.0K的正态随机扰动,进而获得不同精度的观测模拟值序列,然后利用Harris和Kelley的辐射资料偏差订正经验方法订正不同精度的观测资料。偏差订正后,利用三维变分同化模式(WRFDA)直接同化ATMS资料。通过2016年6月6h预报场的同化试验,评估了不同观测精度的模拟资料对数值模式的同化影响。     

基于粒子群算法的多波位高度估计方法

为解决雷达斜视模式下对目标区域的高度估计问题,提出了一种基于粒子群算法的多波位高度估计方法。利用粒子群优化算法建立约束条件和目标函数,通过多次迭代使目标函数趋于一个最优值,同时得到高度的最优解。利用粒子群优化算法求解多波位测高方程组可减小方程组近似处理误差。此外,利用粒子群优化算法可随时更改波位数目,增强了该测高方法使用的灵活性,有效提高了高度估计精度。通过理论仿真和实测数据仿真分析,验证了粒子群优化算法在求解多波位测高方程组时的有效性。结果表明:该方法具有较高的高度估计精度。     

羽流中固体颗粒在真空环境下分布的数值仿真

通过对气?固两相间动量和能量相互作用解耦处理,建立了一种适于模拟真空环境气固两相混合物羽流的DSMC双向耦合算法与固体颗粒空间输运变化特性的TPMC计算技术。仿真了固体火箭发动机两相羽流流场和固体颗粒在远离发动机喷口数十公里空间扩散运动分布特性,通过将计算结果与典型文献结果及理论分析比较确认,证实本文方法的准确可靠性。结果表明,固体颗粒对气相的扩散有一定的阻滞作用;仅在离发动机喷口一定距离,气相对固体颗粒有较大影响,致颗粒温度下降、速度增加;颗粒温度随发动机喷口距离增大而减小,一直要在远离喷口上百公里颗粒温度才随轴向位置趋于平衡,且不同尺寸的颗粒温度差别较大,对指导外层空间高真空环境气固两相羽流传输影响工程研制具有重要意义。     

中国航天科技集团公司2015年质量工作要点

2015年是中国航天科技集团公司确保"十二五"规划目标全面完成、启动谋划"十三五"规划的关键之年,质量工作必须认真贯彻集团公司党组一号文件精神,扎实推进航天质量提升工程,全面落实精细化质量管理的各项要求,确保全面完成各项任务。全年质量工作重点:1.扎实推进航天质量提升工程。各院、各专业公司要按照航天质量提升工程的总体方案,以"瓶颈突破工程、精品塑造工程、用户满意     

微振动源与支撑结构耦合特性研究综述

综述了微振动源与支撑结构耦合特性理论研究现状,重点介绍了基本理论研究、静态动质量法、动态动质量法等在微振动源与支撑结构耦合特性分析中的应用及试验验证,并对几种分析方法的分析结果与试验验证结果进行了对比,结果表明考虑了陀螺效应的动态动质量法分析结果与试验结果更为吻合。提出了国内微振动源与支撑结构耦合特性在理论方法改进、物理试验应用、减隔振系统设计应用等方面的研究展望,可为微振动领域相关研究和产品研制提供参考。     

卫星海色数据融合方法概述

阐述卫星海色数据融合的基本概念和优点,总结应用在海色遥感方面的数据融合方法,通过总结对比各融合方法的优缺点,探讨在海色融合中需要注意以及需要进一步改进的各问题。     

关于GJB979《ZN—1阻尼胶料》的说明

简述了ZN—1阻尼胶料的优点及用途。重点对GJB979—90《ZN-1阻尼胶料》中将诺模图作为参考件的原因、阻尼性能的确立原则、阻尼性能的确定及其指标的统计处理和取样方法的规定作了详细说明。     

氦质谱正压检漏

对氦质谱正压检漏的一般技术要求，如被检系统的包封、积累时间、探测时间及定量系统的校准、使用等做了介绍。     

国产非加固CMOS电路低剂量率辐射效应的研究

在不同剂量率下进行辐照试验,半导体器件的失效剂量和失效机理可能不同。文章对国产非加固 CMOS 电路 CC4007分别在低剂量率和高剂量率下进行辐照试验,并将试验结果进行比较。辐照剂量率为0.0001、0.001、1Gy(Si)/s。对高剂量率辐照的器件进行了100℃168h 退火试验。试验结果表明,在低剂量率下辐照器件电参数退化相对小些,但失效模式同高剂量率下的一样,失效是由于静态漏电大。试验还表明对国产非加固 CMOS 电路用高剂量率辐照试验进行评估是不准确的。