空间尘埃等离子体中尘粒电荷的相关涨落对尘埃磁声波的影响

本文运用自洽的三流体方程组, 考虑了尘埃的充电过程, 得到均匀磁化尘埃等离子体中垂直于磁场传播的尘埃磁声波的色散关系, 结合空间环境讨论了尘埃电荷的相关涨落对尘埃磁声波的影响.      

磁流体力学的共面黎曼问题

MHD黎曼问题的求解对分析行星际扰动演化趋势和激波相互作用具有重要意义。本文基于MHD共面间断可以分解为前后向快慢激波、中心简单波和接触间断的假定,提出MHD共面黎曼问题的一种三参数迭代解法,运用该解法实现纯法向速度间断的分解,并初步探讨该解法的适用范围。      

环绕式微带共形天线辐射特性的研究

基于腔模理论和等效原理推导出环绕式微带共形天线远区场的表达式。根据该表达式算得的TM_(01)模天线方向图在相对介电常数较小时与文献〔3〕的结果相吻合。同时还研完了圆柱半径对天线方向图的影响。     

激波在行星际介质中的能量耗散

导出激波下游介质相对上游介质能流通量增量公式,并由HeliosA,B飞船太阳风观测资料得出不同流速太阳风流中各参量随日心距的幂律变化。以此作为背景值分别计算出磁能、内能、动能和总能在不同日心距离处的能量耗散率。结果指出激波后介质以动能增加为主,内能次之,磁能最少;总能耗率在近日处较大,但下降较快。从0.3-1.0AU,不同强度激波总能耗随初始Alfvén激波数A₁₀增大而增大,对A₁₀从2.0-10.0的计算结果与观测值一致。      

低纬Pc3地磁脉动的多台观测

利用长春、北京、兰州三个低纬地区台站的地磁脉动观测资料,对低纬地区(1.21≤L≤1.43)Pc3脉动的频谱特性和偏振特性做了对比分析,并对低纬Pc3脉动的激发机制和传播过程进行了讨论。      

1978—1988年间磁扰的分析与日地耦合

用1978-1988年间行星际磁场(IMF)的B_z分量、极光区AL指数和赤道附近地磁台Z分量等资料探讨了日地耦合中的主要物理过程。B_z的11年变化大致与太阳活动程度相当,但AL和赤道附近ΔZ更多地受磁层和电离层内部过程所控制。分析中强调了对国际磁抗日按物理过程进行分类的必要性。      

行星际磁场北向时磁层顶区磁场重联的全球模式

在对背阳面磁层顶区局域磁场重联模拟的基础上提出了一个行星际磁场北向时磁层顶磁场重联的全球模式。行星际磁场北向时碰层顶磁场重联导致近地尾瓣的能量被输送到远磁尾,太阳风能量不在磁尾储存,向阳面磁层顶变厚,磁层受到一系列扰动。      

基于Sentinel-2影像的鄱阳湖大气校正方法适用性评价

随着水色遥感技术逐步应用于内陆浑浊水体,大气校正成为水色遥感中最关键的一步。文章以"哨兵二号"卫星(Sentinel-2)数据为基础,采用Sen2cor、6S、FLAASH、ACOLITE和QUAC五种大气校正方法对鄱阳湖水体进行大气校正研究,结合实测水体反射率对不同校正结果进行精度验证分析。从整体对比结果来看,经过校正后的反射率曲线与实测光谱曲线的变化趋势基本一致,具有较高的拟合度,其中Sen2cor方法整体精度最高,依次是FLAASH、6S、ACOLITE和QUAC。对比单波段校正精度,Sen2cor在490nm和560nm波段表现最好,在665nm和705nm波段,6S、ACOLITE和Sen2cor效果较好,平均相对误差均在13%以内,而在842nm和865nm波段,除FLAASH算法表现相对较好以外,其他四种方法表现均较差,其中QUAC算法在所有波段的校正效果表现最差。结果表明,这五种大气校正方法均使水体影像品质得到了提高,增加了可用性,该结果可为其他类似Ⅱ类水体大气校正研究提供参考。     

前斜视SAR成像中几何校正问题研究

前斜视合成孔径雷达（SAR）成像算法广泛应用于军用SAR系统,其中几何校正是前斜视SAR成像算法的一项重要内容。为此,以经典的chirp变标成像算法为例,研究了前斜视SAR成像中的几何校正问题,内容主要包括SAR目标位置偏移几何校正和用于评估目标成像品质的图像旋转校正。提出的几何校正方法简单实用,可为其它前斜视SAR成像算法的几何校正提供参考。     

基于金刚石氮–空位色心的微波磁场成像技术的可靠性研究

相对于单片微波集成电路（MMIC）芯片的设计与制造工艺发展,芯片的测试与失效分析研究进展缓慢。文章首先调研了基于金刚石氮–空位（NV）色心的高空间分辨率微波磁成像应用及通过磁成像技术反演电流分布的技术进展;继而进行了基于NV色心系综微波磁场成像技术的MMIC热态可靠性研究。结果表明：利用基于金刚石NV色心的微波磁场成像技术,对毫米波微波芯片表面的二维矢量场进行高空间分辨率、高灵敏度的快速成像与重构,可以采集芯片在正常和非正常工作状态下的磁场成像信息;进一步对微波芯片内部的信息进行反演重建,可以实现芯片内部故障点的精确定位诊断和潜在故障点排除。所做研究有望为芯片设计、生产、测试提供可靠性诊断。