一种航天接口芯片静电防护电路的软击穿现象

接口阻抗测试是航天产品中对产品状态是否正常来进行判断的常用方法。在航天产品应用中，通常认为接口芯片阻抗测试异常即代表该接口芯片已经失效。本文针对一种LVDS接口发送芯片由静电导致阻抗测试异常，但功能正常的现象进行分析。在元器件失效分析的基础上，定位静电损伤的位置为芯片内部静电防护电路，从而建立了对应的电路模型，对芯片静电损伤的现象进行理论分析。分析说明：该芯片在被静电打击时，其静电防护电路中一个NMOS管受损，但该电路保护了芯片的功能电路，被击穿的NMOS管等效为一个电阻，因此导致阻抗测试异常，但芯片功能电路未受损的现象，为静电软击穿现象。且可认为该芯片在受静电影响后并未失效，相关电路仍具有正常工作的能力。即阻抗异常现象并不是芯片失效的充分条件。     

基于M-AFSA的MPRM逻辑电路面积优化

现有基于传统智能优化算法的MPRM电路面积优化算法存在效果差的问题。由于MPRM电路面积优化属于组合优化问题，先提出一种多策略协同进化人工鱼群算法（MAFSA），该算法引入基于反向学习的种群初始化策略，以提高种群多样性及初始种群解的质量；引入觅食与追尾交互性策略，以加强人工鱼个体之间的信息交流、提高所提算法的收敛速度；引入自适应扰动策略，以增加人工鱼个体位置变异的随机性、避免所提算法陷入局部最优。此外，提出一种MPRM逻辑电路面积优化方法，利用所提算法来搜索电路面积最小的最佳极性。基于北卡罗莱纳州微电子中心（MCNC）Benchmark电路的实验结果表明：与遗传算法相比，所提算法优化电路平均面积百分比最高为57.24%，平均为39.57%；与人工鱼群算法相比，所提算法优化电路平均面积百分比最高为33.53%，平均为14.54%；与改进的人工鱼群算法相比，所提算法优化电路平均面积百分比最高为30.25%，平均为13.86%。     

空间用太阳翼电路部分隔离二极管应用分析

针对空间太阳翼隔离二极管的应用,结合标准规范及太阳翼电路部分的工程设计约束与在轨应用经验,给出了空间太阳翼电路部分隔离二极管的设计方案;结合工程研制经验,给出了不同类型太阳翼电路部分隔离二极管的应用建议,为相关科研人员提供参考。