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22.
选取集成电路实际失效分析典型案例,对其主要失效模式及失效机理进行分析与研究,并对集成电路的质量控制及整机产品的设计提出几点建议。 相似文献
23.
介绍了 机的结构及工作原理,专用集成电路控制器MC33035的内部构造及所组成的无刷电机调制速率, 天马Excel织机电子送经和电子卷系统。 相似文献
24.
随着电子技术的不断发展与进步,电子系统的设计方法发生了巨大的变化,EDA技术的芯片设计正在成为电子系统设计的主流,逐步替代了传统的设计方法,大规模可编程器件CPLD/FPGA是当今应用最为广泛的可编程专用集成电路,本文将介绍其在航空逆变电源控制电路上的应用,说明了它具有缩短开发周期,降低成本,提高系统可靠性等优点,这项新的EDA技术对促进航空事业的快速发展有着积极的意义。 相似文献
25.
26.
周永法 《航空精密制造技术》1991,(4)
本文对航空电子小型化技术发展专用半导体集成电路(ASIC)、混合集成电路(HIC)和表面安装技术(SMT)做了介绍,并分析了它们用于航空电子设备的优点和问题。 相似文献
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29.
MENG Xiang-ti HUANG Qian WANG Ji lin CHEN Pei-yi TSIEN Pei-hsin 《中国航空学报》2006,19(B12):192-197
The changes of DC characteristics of SiGe HBT after being submitted to γ-ray irradiation of 700 krad, 7 000 krad and 10 000 krad were compared to those of Si BJT. Generally speaking, Ib and Ib- Ib0 increase with the doses increasing. For SiGe HBT, with the doses increasing, Ic and Ic-Ic0 as well as the related changes of the current gain (β) will decrease at higher Vbe, while for Si BJT, with the doses increasing, after irradiation, Ib and Ic-Ic0 increase; ,8 and its related changes also decrease with their differences, however, tending to be very small at high doses of 7 000 krad and 10 000 krad. Moreover, given the same doses, the decreases of,a are much larger than SiGe HBT, which shows that SiGe HBT's anti-radiation performance proves to be better than Si BJT. Still, in SiGe HBT, some strange phenomena were observed: Ic-Ic0 will increase after the radiation of 7 000 krad in less than 0.65 V and as will ,8 in less than 0.75 V. The mechanism of radiation-induced change in DC characteristies was also discussed. 相似文献
30.
方次尹 《航空精密制造技术》1995,(2)
评述了多芯片组件(MCM)、晶片规模集成(WSI)、3—D堆垛技术以及3—D封装的概念、结构和特性.重点介绍了MCM在航空机载电子设备中应用的实例,简要地描述了下一代微电子技术的某些发展方向. 相似文献