涡扇发动机性能退化缓解控制与推力设定

为了补偿性能退化发动机的推力损失,减轻飞行员工作负担,提高推进系统的自动化程度,开展了涡扇发动机性能退化缓解控制(EPDMC)研究。针对某型涡扇发动机部件级模型设计了具备稳态控制、加/减速过渡态控制和极限保护等功能的基准控制器;在此基础上设计了外环推力控制回路,给出1种在多参数约束下的推力设定方法,并设计了合理的切换逻辑确保内外环控制器能协调工作。MATLAB/Simulink下的仿真结果表明:该智能改进控制系统架构可以在保证发动机安全工作的前提下,通过合理地设定期望推力,最大程度地补偿推力损失,维持油门杆角度和推力的对应关系近似不变。     

QJ2597—94《弹道式导弹与运载火箭杆系强度、刚度试验规程》简介

概述了QJ2597-94《弹道式导弹与运载火箭杆系强度、刚度试验规程》的制定目的、制定原则及其特点,并对标准的主要内容作了介绍。     

高精度航天轴承刚度测量装置

介绍一种高精度航天轴承刚度测量装置,内容包含轴承刚度测量的原理、刚度测量装置的设计、应用效果等三部分.航天器中的精密旋转部件,尤其是某些高速旋转部件例如陀螺仪转子和角动量飞轮以及某些光学部件例如红外地平仪都采用了精密角接触滚珠轴承作为旋转支承.为了使这类旋转支承获得高旋转精度、长寿命和高可靠的特质,就必须对轴承加一个精确的预载力.本文介绍的轴承刚度测量装置就是为此而研制的.该装置已在航天器旋转部件的研制中发挥了重要作用.装置允许加力范围0-100kg,测力精度1 N;变形测量范围100μm,测量精度0.1μm.     

锥壳受扭时等剪力强度设计及刚度计算

将受扭等截面空心圆轴剪应力和刚度计算公式推广到受扭矩的锥壳上应用，提出锥壳等剪力强度设计方法，使等式右边趋近于零，得到一元四次方程的近似有效解，用辛普生积分法求得扭转角的近似值，用实例进行计算，方法可用到受外扭矩锥壳的等剪力强度设计和计算。     

QJ2067《弹道式导弹弹体静、热强度与静、热刚度试验规范》简介

概述了QJ2067—91《弹道式导弹弹体静、热强度与静、热刚度试验规范》制定的目的、原则和特点,并对标准的主要内容作了介绍,分析了主要技术难点,提出了可行的操作方法。     

一般层合板矩形单元的几何刚度矩阵

本文简述了求解结构稳定性问题的有限元理论基础。用张量的形式指导了一般层合板矩形单元的节点力和节点位移关系方程，详细推导了一般层合板四节点矩形单元的几何刚度矩阵的公式及其显式。     

航空带垫卡箍刚度及阻尼特性分析与试验验证

研制了带垫卡箍刚度测试装置,分别对不同规格卡箍线刚度和扭转刚度进行了测量,并将卡箍刚度测量数值引入卡箍-管路系统有限元模型,通过管路固有特性数值计算与试验测试结果对比,误差在5％左右,验证了卡箍刚度参数的准确性.进一步搭建了卡箍阻尼测量系统,通过测量卡箍动态传递率,获得相对应的模态阻尼比,并将卡箍阻尼测量数值引入卡箍-...     

加速退化试验测量不确定度评定方法

受测量分散性、仪器误差等因素影响，加速退化试验中存在测量不确定性问题。提出了加速退化试验测量不确定度的传播与评定方法，以提高试验评估结果的准确性和可信性。首先，介绍了加速退化试验中的测量不确定度来源，并结合维纳过程加速退化模型参数估计过程分析了测量不确定度的传播效应；其次，分别利用测量不确定度指南评定法（GUM）和蒙特卡洛法，量化评定了加速退化试验中性能观测数据测量不确定度对正常应力水平下产品可靠性评估结果的影响；最后，采用某型空间用高分子传感器案例对本文所提方法进行验证，并针对2种方法的估计结果进行了对比分析，验证了所提出方法的有效性。     

飞机锁类机构性能退化可靠性分析方法综述

随着航空航天装备的快速发展,对飞行器装备的可靠性要求逐渐提高,飞机锁类机构的可靠性对飞机起降的安全至关重要。以飞机舱门锁机构为研究对象,首先通过文献调研了大量舱门锁机构并分析了锁机构的特点和失效模式,阐述了锁机构的工作原理。其次综述了锁机构失效机理建模、机构渐变损伤的研究现状以及目前存在的问题,分析了国内外有关锁机构可靠性的研究现状;并针对多连杆机构可靠性分析和锁机构可靠性分析进行了分类梳理。最后对锁机构的可靠性分析研究思路进行总结,并对目前复杂锁机构的可靠性分析存在的问题及其研究趋势进行了展望。     

基于二元相关的器件级可靠性建模与剩余寿命预测研究

器件作为部件及设备的主要组成部分,其可靠性及健康状态对设备功能完好性及任务可靠性具有重大影响。本文针对复杂应力条件下单一性能退化的可靠性建模不能全面地评估器件的状态和退化,提出基于Copula函数的二元性能退化联合建模的流程和方法,将联合建模分解为边缘退化模型选择与确定和性能参数之间关联性的构建两部分。同时,基于卡尔曼滤波方法,提出二元性能退化的剩余寿命预测方法,并利用芯片试验数据进行验证,应用于基于两焊点退化的芯片可靠性建模和剩余寿命预测。