CCD相机系统中的高信噪比多通道信号处理设计

简要介绍了高速CCD相机中的电子学系统及CCD信号的处理流程。根据相机多路CCD信号同步处理的要求,设计了一个信号处理单元并行处理24路像元速率为4MHz的CCD信号。CCD信号处理主要关注在提高相机成像信噪比、暗电平箝位及多路信号一致性调整3个方面,文章针对上述问题进行了分析,提出了解决方案。最后,给出了相机系统的测试结果。     

塔康信标基准下垂的补偿与性能改善研究

为了改善塔康信标"基准下垂"现象对系统性能的影响,从分析基准下垂产生的原因入手,研究了基准下垂的信号特征,通过将相对下垂信息变换为脉冲宽度信息,再将脉宽积分为直流补偿信号,加至基准下垂电路的补偿级,实现了对下垂信号的补偿.并通过MatrixX仿真对这个过程进行了验证,仿真结果表明,该补偿方法能够达到预期的补偿效果,从而保证了塔康系统测位功能的正常发挥,同时降低了寄生调制误差,提高了测位精度.     

星载设备遥测遥控电路中使用1553B总线技术的探讨

文章对星载设备遥测遥控电路中使用1553B总线技术进行了探讨,分析了星载设备采用1553B总线技术后的特点,提出了可行的实现途径。     

电路漏电流形成及预防

介绍了印制电路板漏电流的形成及影响,对不同环境条件下的印制板印制线间绝缘电阻进行了测试,得出了电路漏电流的控制方法,为可能出现的因电路漏电流导致的故障分析提供参考和依据。     

METEOR 1500C型天气雷达发射机监控电路分析

METEOR 1500C是德国SELEX／GEMATRONIK公司开发的新一代C波段速调管多普勒天气雷达,为提高发射机系统运行的稳定性,厂家在发射机监控电路上采用了新的工作模式和架构,即利用工业级PROFIBUS—DP现场总线标准,结合自身开发的监控数据接口模块,构成新型的发射机监控电路,它具有响应速度快,运行稳定,能充分发挥计算机智能集中监控优势等特点。它是一种集中／分散相结合的工作模式,这种模式的优点在于：对不同的监控点有相应的数据采集接口模块一一对应,这样就有利于故障点的快速定位和判断。     

LEO卫星太阳电池电路原子氧效应分析及试验研究

分析了原子氧环境对低地球轨道(LEO)卫星太阳电池电路损伤效应,得到目前常用的太阳电池电路材料中银互联材料和聚酰亚胺膜对原子氧环境较为敏感。采用20μm的可伐互联片及50μm的银互联片样品,开展原子氧试验研究。试验结果表明:在原子氧总通量为1.7×1022 atoms/cm2以下时,可以选择银互联片作为连接介质,不会因为原子氧侵蚀对互联片产生危害。当原子氧总通量为2.5×1022 atoms/cm2以上时,可以考虑采用可伐互联片。文章的研究结果可为适用于高原子氧总通量的太阳电池电路互联片设计提供依据。     

空间光学载荷低温部件地面气体保护系统设计

针对空间光学载荷低温部件的特点及其对水汽污染物控制的特殊需求,分析水汽污染物对该类型部件的污染过程及防护方法,制定通过惰性气体正压保护防止水汽污染的技术途径和方案,设计地面无间断气体保护防污染系统,以实现对环境温湿度、保护气体温湿度等环境参数的全过程记录、预警/报警、局部调节等功能。系统测试结果表明,地面气体保护系统能够较好地实现预定设计功能,对该类低温部件的保护具备一定的工程实用价值。     

请保护美丽的夜空吧

对于生活在城市的人们来说,或许已经很长时间没有见到群星灿烂的夜空了。白昼和黑夜的交替,原本是大自然的一种规律,也是芸芸众生正常生存的重要保障之一。然而,人造灯光已经让夜晚不再那么黑了。黑夜渐渐离我们远去,随之而来的问题也凸现在我们眼前：能源的浪费导致温室气体增多,     

一种星载信息系统微系统电路设计

基于星载信息系统高集成化、轻小型化和智能化的发展需求,微系统电路通过SOC/SIP等先进集成电路设计技术将CPU、 FPGA及相关功能的裸芯片高密度集成。相比传统卫星研制方式,微系统电路的体积、重量、功耗显著减小,且产品研制周期由于模块化、通用化设计得以缩减。文章介绍一种基于RISC-V指令集处理器的星载信息系统微系统电路设计方案,采用基于RISC-V指令集的双核处理器作为微系统控制核心;通过架构优化设计集成RISC-V处理器核、 FPGA、存储芯片、接口电路等;考虑空间环境的影响,通过结构级抗辐照加固设计提升微系统电路的在轨运行可靠性。     

TEST OF BOARD LEVEL BOUNDARY SCAN INTEGRITY

ＩＥＥＥ１１４９．１边界扫描为数字电路板级测试提供了所需的对内部节点的控制和观察能力。但是,边界扫描测试结构本身的完整性必须首先加以检测,以保证其他功能测试和诊断结果的正确性。本文论述了板级边界扫描测试存取口的故障模型和测试原理,并针对全边界扫描印制板提出了一种故障覆盖率高、测试时间短的测试算法。