航天器介质放电脉冲频谱特征实验研究

空间电子辐射环境下,航天器介质的充放电效应是威胁航天器安全的重要因素.介质放电现象除与材料参数及构型相关外,还与空间电子环境密切相关.本文通过电子枪和Sr⁹⁰放射源在地面实验装置上模拟空间电子辐照环境,测试了环氧树脂、聚四氟乙烯、聚酰亚胺等常见空间材料在不同温度、不同电子能量和电子束流强度影响下的放电脉冲,并对放电电流脉冲和电场脉冲进行频谱分析.实验分析结果表明,介质材料的放电电流脉冲频谱具有明显的单峰结构,该峰值与材料厚度和入射电子能量相关,但受材料温度和辐照束流强度影响不大.     

低电离层elves现象的模拟研究

建立了雷暴放电产生的电磁场在对流层-低电离层之间耦合的时变模式,并用模式研究elves现象的时空特征.模拟结果表明,雷暴放电产生的电场包括准静电场和辐射场,其中由放电电流脉冲产生的辐射场是产生elves现象的直接原因.辐射场的电场强度分布与偶极辐射产生的电场强度的分布相似,在雷暴放电的正上方电场较弱,在地面附近辐射电场较强.模拟结果还表明,elves现象在向外扩张时具有双峰或单峰结构,在摄像仪的底片上相应出现双环或单环结构.elves现象在83 km高度水平向外扩张的过程中,最大光辐射强度开始增大,然后逐渐减小.此外,利用球形电磁波假设,探讨了elves现象超光速水平扩张的原因.     

氙离子发动机对GEO卫星表面充/放电效应的影响

用于GEO卫星上的氙离子发动机工作时喷射出具有一定能量和密度的氙离子及电子,参与了通常由空间等离子体、表面材料二次电子、光生电子等对GEO卫星的表面充/放电过程,从而对卫星表面充/放电效应产生影响.文章对此影响进行定性分析,并探讨其设计要求.     

电晕耦合无声放电结构电极配置数值模拟

提出了一种电晕耦合无声放电结构,通过对线-板式电晕耦合无声放电结构静电场进行数值模拟,得出了不同线-板电极配置下的电场分布,结合流光形成、发展和传播所需的静电场条件,分析了电极配置。结果表明,对于一定的放电电压和线-板间距,存在一个较优的线电极直径,使之既满足于电晕放电的起晕,又满足于流光放电的发生、发展及稳定传播。对于一定的线-板间距,线-线间距存在一个有效范围。     

一种抑制微放电的宽带大功率定向耦合器设计

在卫星有效载荷系统中,3dB定向耦合器作为微波工程关键器件已得到广泛应用,而此类器件在太空真空环境中,常因真空环境下大功率工况引发的微放电效应形成谐振放电现象,影响耦合器性能与寿命,对于卫星系统日益增多的小型化及大功率需求,在器件设计时应充分考虑微放电效应并兼顾小型化要求,采用有效抑制手段以确保器件在轨稳定可靠。通过分析定向耦合器工作原理与不同结构耦合器之间的差异,阐述了真空环境下的微放电效应产生机理,针对性地采取基于奇偶模分析法的耦合线结构耦合器设计方法,选用高导热材料Rogers TC350+作为耦合器介质,利用软基板多层混压方式进行产品加工,通过仿真试验与真空环境实测,表明此类设计既具有体积小、重量轻的特点,又可有效抑制器件微放电效应,确保了耦合器的工作性能,满足卫星系统使用工况。     

慢走丝线切割电解锈蚀放电状态的分析和控制

电解锈蚀放电状态在慢速走丝线切割加工过程中的危害十分严重．它不仅影响工件的表面精度和机械强度,而且还影响加工速度．导致电解锈蚀放电状态的主要原因是阳极金属溶解和工作液电解现象．本文主要研究预防阳极金属溶解和工作液电解的方法．还介绍了一种慢走丝线切割控制电解锈蚀放电状态的电源装置。     

非接触式静电放电波形分析及试验

静电放电(Electrostatic Discharge,ESD)作为一种常见的近场危害源,在其放电过程中可形成高电压和瞬时大电流,使得器件的安全性能大大下降,并影响半导体器件的电学特性.本文对火工品静电感度试验装置非接触放电时的等效电路模型进行分析,并根据等效电路进行仿真,研制试验装置,针对电容与电阻的不同组合进行放...     

星载微波部件介质微放电理论研究现状及发展趋势

针对目前制约卫星有效载荷中大功率微波部件的功率提升及小型化的介质微放电瓶颈问题，对国内外介质微放电的研究进展进行了系统梳理，介绍了有关介质窗单表面微放电和介质加载平行平板双表面微放电两种理论模型的研究进展，总结了主要的研究结论。在此基础上给出了未来介质微放电研究的发展趋势分析，以期对国内介质微放电研究的推进提供参考。     

BGA 封装NC 管脚对ESD 测试的影响

焊球阵列封装电路已广泛应用在航空电子产品中，其静电放电测试参考的测试标准中不要求对未键 合空脚进行静电放电测试，在实际静电放电测试过程中发现，对焊球阵列封装电路未键合未键合空脚进行静电 放电测试后会产生电路失效现象。通过分布电容方法分析以及不同管脚组合测试验证，证明了焊球阵列封装电 路的未键合空脚在经过人体模型静电放电测试后，会对电路产生影响。