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631.
JETWAY登机桥在本机场运行了有13个年头,其以高智能性,操纵平稳而略胜于国产登机桥。但在日常运行中发现其存在一点设计缺陷,本文对此进行详述并提出了改进措施。1因设计缺陷而造成的安全隐患现象 相似文献
632.
用两种与传统不同的电路模型表征正激变换器.其一用LC串联谐振实现磁复位功能(这一模型中没有磁复位绕组,并确认开关管存在与其并联的电容).其二主要用磁复位绕组实现磁复位功能(这一模型中有磁复位绕组,但也确认开关管存在与其并联的电容).用相平面分析法分析这些模型,得到了正激变换器运行时电路和磁路特征参量的解析表达式.本文的分析和解析结果以及后续对这两种正激变换器的全面分析被称为新建正激变换器运行理论. 相似文献
633.
634.
一种红外多光谱相机在1.55~2.35μm的波长区域有两个波段,由于探测器位于同一焦平面基底上以及读出电路设计等的影响,两谱段间存在串扰现象.首先对图像的串扰现象进行了描述,并对产生串扰现象可能的机理进行了分析.其次,从HgCdTe探测器焦平面阵列的内部结构及探测器的关键参数入手分析了光通过在焦平面区域的多次反射来进行反射及传输是光串扰及电串扰的机理;同时读出电路不准确设计也导致了串扰现象,并对串扰现象进行数学建模.研究发现B10波段的串扰(负/正冲激)与B11波段的阶跃(上升/下降沿)相关.最后基于所创建的数学模型对串扰现象进行了校正. 相似文献
635.
Boost变换器常用作两级式逆变器的前级升压电路,由于电路中寄生参数的存在,开关瞬间输出电压叠加有瞬态尖峰,降低了波形质量,甚至影响逆变器的正常工作。为了抑制直流环节电压尖峰,研究了Boost电路开关瞬态过程,针对瞬态电路开关特性和开关器件工作状态,建立了基于金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)和肖特基二极管(SBD)的换流单元的解析模型,进一步分析了不同寄生参数对开关瞬态电流特性的影响,以及导致电压尖峰的机理等。仿真分析了寄生参数与输出电压尖峰大小的关系,提出了“减缓开关速度”和“降低输出端寄生电感”2种从源头抑制输出电压尖峰的方法。仿真和实验表明,这2种抑制方法能够有效减小电压尖峰,提高Boost电路的输出电压性能。 相似文献
636.
接口阻抗测试是航天产品中对产品状态是否正常来进行判断的常用方法。在航天产品应用中,通常认为接口芯片阻抗测试异常即代表该接口芯片已经失效。本文针对一种LVDS接口发送芯片由静电导致阻抗测试异常,但功能正常的现象进行分析。在元器件失效分析的基础上,定位静电损伤的位置为芯片内部静电防护电路,从而建立了对应的电路模型,对芯片静电损伤的现象进行理论分析。分析说明:该芯片在被静电打击时,其静电防护电路中一个NMOS管受损,但该电路保护了芯片的功能电路,被击穿的NMOS管等效为一个电阻,因此导致阻抗测试异常,但芯片功能电路未受损的现象,为静电软击穿现象。且可认为该芯片在受静电影响后并未失效,相关电路仍具有正常工作的能力。即阻抗异常现象并不是芯片失效的充分条件。 相似文献
637.
在诸如深空、深海等特殊环境中的电子电路,传统的基于冗余容错技术提高电子系统可靠性的方法受到了很大程度的限制,进而基于硬件演化(EHW)的故障自修复策略开始被广泛研究。但是后者也存在一些弊端,如存在电路演化规模大、电路演化速度慢、故障修复能力有限等问题。因此,在前期工作中,提出了基于EHW和补偿平衡技术(RBT)的电路故障自修复策略。通过从故障自修复能力、故障修复速度、硬件资源消耗等角度对比分析,相比于常规的基于EHW的故障自修复策略,基于EHW和RBT的电路故障自修复策略的故障修复方法灵活、故障修复类型多,且能缩减电路演化规模、缩短电路演化时间、提高电路修复速度、硬件资源消耗可控,其可行性和有效性得到了论证,具有重要的工程应用价值。 相似文献
638.
结合研制工作实际,介绍一种以ARM9为核心的宽频功率源接口电路设计方案和程序设计方法。给出了电路设计方案,介绍各电路模块的功能和设计思想。在介绍VxWorks操作系统架构的基础上,给出了应用程序设计的详细流程。 相似文献
639.
应用设计过程的胚胎硬件细胞单元粒度优化方法 总被引:4,自引:0,他引:4
胚胎硬件的高可靠性主要由新颖的硬件体系和细胞电路结构来保障,缺乏应用设计过程的可靠性提高方法研究。分析了在应用设计过程中可调的胚胎硬件可靠性影响因素,针对细胞单元粒度不同会导致细胞面积变化从而影响细胞阵列可靠性的实际情况,对传统可靠性模型无法体现细胞面积变化的不足进行了改进,建立了新的可靠性模型。通过实例分析,总结出不同细胞单元粒度情况下的细胞阵列可靠性变化规律,进而给出细胞单元粒度优化选择方法,设计者基于该方法不需设计完整电路就能确定自身设计能力范围内获得最大可靠性的细胞单元粒度。 相似文献
640.