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分析讨论电位器的质量与产品部件发生颤抖的关系,为排除产品故障提供依据。由产品故障的再现试验和对电位器结构及工作环境的分析,认为电阻元件表面粗糙是引起产品部件发生颤抖的主要因素,当电刷在粗糙的电阻元件表面上快速运动时,触点发生弹跳和接触不良,电位器的输出电压发生掉电,导致控制电路发出不正常的控制信号,产品部件随之发生颤抖故障。通过对电位器的质量、工作过程及产品部件运动特点的分析,为排除产品故障提供了理论依据。 相似文献
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Xilinx SRAM型FPGA抗辐射设计技术研究 总被引:10,自引:2,他引:10
针对Xilinx SRAM型FPGA在空间应用中的可行性,分析了Xilinx SRAM型FPGA的结构,以及空间辐射效应对这种结构FPGA的影响,指出SRAM型的FPGA随着工艺水平的提高、器件规模的增大和核电压的降低,抗总剂量效应不断提高,抵抗单粒子效应,尤其是单粒子翻转和单粒子瞬态脉冲的能力降低。分析了FPGA综合后常见的Half-latch在辐射环境中的影响并结合实际工程实践给出了解决上述问题的一些有用办法和注意事项,如,冗余设计、同步设计、算术逻辑运算结果校验、白检等。最后还提出一种基于COTS器件的“由顶到底”的星载信号处理平台结构,分析了这种结构在抵抗辐射效应时的优势。有关FPGA抗辐射的可靠性设计方法已经在某卫星通信载道中成功应用,并通过了各种卫星环境试验,该技术可以为有关航天电子设备设计提供参考。 相似文献
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