采用线膨胀系数可控ZrO2-TiO2陶瓷模具的钛合金高精度超塑成形

对线膨胀系数可控的ZrO2-TiO2陶瓷模具及钛合金高精度超塑成形进行了系统研究。探讨了TiO2体积分数和相对密度对ZrO2-TiO2陶瓷的线膨胀系数的影响规律,并引入相对密度修正模型——Turner模型来准确预测复合陶瓷材料的线膨胀系数。采用压痕法检测了与TC4钛合金等膨胀系数的ZrO2-TiO2陶瓷模具的超塑成形精度。在925℃下,利用ZrO2-TiO2陶瓷模具进行超塑成形,其使用性能良好。结果表明:ZrO2-TiO2陶瓷的线膨胀系数随TiO2体积分数的增加而减小,随相对密度的增加而增加。采用线膨胀系数优化的ZrO2-TiO2陶瓷模具,成形精度误差大幅降低,不超过0.1%,且陶瓷模具具有足够的热机械性能进行超塑成形,使用性能优良。     

基于小波阈值降噪和经验模态分解的高光谱图像分类算法

为了充分降低高光谱图像中的噪声以获得高精度的分类结果,本文结合小波阈值降噪(WTD)和经验模态分解(EMD)的优点,提出了一种基于小波阈值降噪-经验模态分解的高精度支持向量机(SVM)高光谱图像分类算法(WTD-EMD-SVM)。首先对高光谱图像进行小波阈值降噪,除去高光谱数据中的高频噪声;然后再对高光谱图像进行EMD,获得含有高光谱数据本质特征的内固模态函数(IMF)和含有低频噪声的残差;最后采用内固模态函数重构高光谱图像,并对高光谱图像进行SVM分类。将其应用到AVIRIS数据92AV3C,仿真结果表明该算法不仅提高了高光谱图像分类精度,同时可减少支持向量数目,以提高高光谱图像分类速度。     

“资源三号”卫星三线阵影像几何质量分析

文章首先简要叙述了基于＂资源三号＂（ZY-3）卫星三线阵TLC影像的严格几何成像模型,然后建立了针对外方位角元素的系统误差补偿模型与相机视向量几何检校模型。经地面系统检校后,采用地面高精度控制点数据对非同时相影像进行试验,并对影像平面精度进行分析评价。结果显示ZY-3三线阵TLC影像无控制点状态下外部定位精度优于6像元,内部几何变形优于1.5像元。     

液路浮动断接器安装精度及优化控制方法

文章对浮动断接器安装精度体系进行了研究, 分析了系统各安装环节的误差源及影响, 并建立了单项误差模型, 采用多环节极限误差累积的方法分析了最大误差传递链路;并在此基础上提出了在对接机构坐标系下直接控制液路浮动断接器安装精度的优化控制方法;可依据此方法确定对液路浮动断接器浮动能力的要求。最后通过液路浮动断接器实际安装和地面插合/分离试验, 验证了浮动能力指标确定方法与精度控制措施的正确性。     

被动雷达导引头对多目标辐射源的角度分辨

基于空域分析原理,提出二维角度域多目标分选与跟踪方法。采用自适应聚类算法,通过对目标空域成像得到目标的二维角度,来完成多目标的分辨。仿真结果表明：被动雷达导引头的主波束内存在多个目标时,在参数装订信息有限的情况下,采用该方法能将多个辐射源分辨开采。     

基于自适应估计的光电平台目标跟踪方法

在基于图像的目标跟踪系统中,跟踪器延迟对系统的稳定性和跟踪精度产生不利影响.通过对光电平台伺服系统的理想控制指令的分析,给出了一种基于自适应估计的跟踪器延迟补偿方法.该方法采用自适应估计器快速估计目标速度,预测目标位置,同时结合无人机位置和姿态信息预测控制指令实现延迟补偿.仿真结果表明:该方法在目标机动和载机机动情况下能够有效提高光电平台的跟踪精度.     

影响天文导航系统定位精度的两个因素分析

本文的目的是研究影响天文导航系统定位精度的两个因素–时间和重力矢量方向。首先对影响天文导航系统定位精度的两个因素进行了理论分析并首次给出了理论公式,然后通过计算机仿真试验分析了两个因素对天文导航系统定位精度的影响程度。最后给出了对工程实践具有指导意义的结论。
     

基于用户查询日志的查询聚类

基于用户查询日志提出了新的查询聚类算法.用户查询日志数据量大,比通常用于查询聚类的查询展现日志和查询点击日志更加稠密,不易产生聚类小的问题,但噪声多,不容易处理.为发现相似查询并减少噪声影响,同一用户同一时段的多次查询(共现查询)之间认为具有较高相似概率.在这一假设基础上,利用查询共现关系建立查询的邻居查询向量空间.将查询用邻居查询向量表示,邻居查询向量的相似度作为聚类中的查询相似度.应用改进的基于密度聚类算法完成聚类.实验证明,95 262个查询组成数据集上,聚类算法实现查准率79.77%、查全率48.21%,平均聚类大小达到51.     

压气机转子内部流场SPIV测量的精度分析

讨论了压气机转子内部流场测量结果的不确定度分析方法,分析了三维速度的直接测量结果、一阶统计量(涡量)和二阶统计量(雷诺应力)测量结果的收敛性,及其所能够达到的典型测量精度;最后分析了影响速度高阶统计量测量精度的主要因素,及提高其精度的可行技术途径.