片切磨削方法构造的自由曲面磨削支持系统

以操作者高效准确操作数控磨削中心为目的,开发了自由曲面磨削支持系统,进行了基于球头磨具的磨削中心基础研究。讨论了获得高精度曲面的加工要点,并提出了片切磨削方法。     

NURB曲面与加工仿真

在AutoCAD中开发的NURB曲面基本数据输入界面,当输入控制顶点及权的数据时,曲面的图形自 动显示。     

一种自适应的曲面剖分算法的实现与性能分析

根据曲面求交的基本原理,结合自适应理论,构造出了一种新的剖分算法。这种算法提高了曲面求交的精度和效率,简化了曲面求交算法的复杂性,同时有效地解决了曲面求交中的漏点漏线、自交等各种问题。     

基于迭代算法的复杂曲面零件三坐标测量快速精确定位方法

针对复杂曲面零件在三坐标测量过程中存在着定位难、定位精度低的问题,基于改进的迭代最近点算法,提出了考虑半径补偿的预定位与精定位的多级定位算法;并通过建立定位点几何误差与叶片定位精度的数学关系模型,结合贪婪算法与六点原则,给出了近优的定位点序列生成方法。结合定位算法与定位点序列,给出了复杂曲面零件定位迭代流程,并开发了三坐标测量定位系统。以涡轮叶片为例,通过的定位仿真和定位实验,结果表明:该系统只需测量12～18个点即可使得叶片定位误差在0.1mm以内,证明该系统能有效的提高复杂曲面零件的定位精度和效率。      

涡轮平面叶栅非轴对称端壁优化设计

开发了一套造型灵活直观、网格生成速度快的涡轮平面叶栅非轴对称端壁优化设计工具,该工具的核心技术是非均匀有理B样条(NURBS)曲面造型和网格变形.在此基础上以商业软件Isight为优化驱动器,以CFX为求解器,搭建了非轴对称端壁优化设计流程.以Pack B涡轮平面叶栅为例,对其进行了非轴对称端壁优化设计.优化后涡轮平面叶栅总压损失系数减小了12.96%.结果表明:涡轮平面叶栅端部的静压分布改变削弱了涡轮平面叶栅通道中马蹄涡、通道涡的强度,提高了涡轮平面叶栅的气动性能.      

Loop细分曲面精加工刀具轨迹生成

细分曲面既能表示连续的几何设计模型也能表示离散的加工模型,避免了模型转换的复杂中间过程.细分曲面除了对于构造具有任意拓扑结构的复杂零件具有巨大的优势外,对于数字化制造也极具发展潜力.因此,对基于Loop细分曲面的精加工刀具轨迹生成算法进行了研究.首先利用基于弦长误差的自适应插值Loop细分得到精加工模型;然后利用等斜率跟踪法将精加工模型分割为平坦区域和非平坦区域.对各个区域依次进行处理,不同区域实施不同的刀具轨迹规划.据此,既避免了因细分过程数据量过大而导致的曲面精度不足或表面质量降低的问题,又可顺利计算整张曲面相对均匀残留高度的刀具轨迹.最后,为验证该算法的可行性进行铣削加工实验.      

航天器自主交会对接的高精度目标定位方法

根据航天器自主式交会对接的实际应用背景和技术需求,针对交会对接过程中所要求的高精度、实时性和强抗扰的技术指标,在合作目标特性分析的基础上,将高斯曲面拟合与双线性插值相结合,提出了一种高精度的合作目标定位方法。首先根据目标图像的灰度分布进行双线性插值和高斯曲面拟合,在此过程中可同时利用目标原有像素和插值点的亚像素信息,使拟合曲面各幅值点的坐标精度达到亚像素级,以确定目标的中心位置。仿真图像和实拍图像的试验结果表明,此定位方法具有亚像素级的定位精度,其总体定位误差可达到1/20个像素左右,并能满足实时性要求,可以在航天器交会对接与空间遥操作等方面的应用中发挥重要作用。     

应用计算几何的月面太阳辐照度仿真模型

月面太阳辐照度对月面环境分析、月面巡视器设计具有重要意义。文章提出了一种应用计算几何的月面任意位置太阳辐照度仿真模型。首先,计算太阳、地球等天体相对月面点的位置;然后,将各天体投影至以月面点为球心的天球球面,并通过裁剪运算和二维布尔运算得到太阳未被遮挡的形状;最后,利用太阳可见面积对理想太阳辐照度模型进行修正,得到通用的模型。为验证提出模型的有效性,将仿真结果与STK软件进行比较。结果表明,文章中的模型综合考虑了地球、月面等多种因素对太阳辐射的耦合影响,其与STK软件获得的结果相比,更符合真实的太阳光照状态。     

整体叶盘叶片型面CMM测量路径规划技术

由于整体叶盘结构复杂,叶片型面为复杂自由曲面,扭曲度大,加工精度要求高,相邻叶片之间的通道深而窄、开敞性差,因此造成整体叶盘制造相对单叶片困难,相应也为其测量增加了难度。测量机对叶盘型面进行测量,首先要进行路径规划,路径规划的好坏决定CMM测量的效率和有效性。     

曲面红外测温方向性误差分析与修正方法研究

通过实验验证与理论分析,探讨了曲面特征的红外辐射测温特性。研究结果表明：曲面红外辐射测温在本质上与平面辐射测温相同,满足同一数学表达式;出现曲面红外测温失真的根本原因是被测表面等效面出现了不满足表面漫射条件假设的状况,这主要是由被测表面法向与测量方向夹角过大导致的;通过测量当地表面发射率可以校正因等效面不满足漫射条件假设造成的红外测温结果失真。