2005上海国际航空航天电子设备展览会暨航空航天电子论坛将于年底举行

以“航空航天电子的未来”为主题由上海、北京、陕西、辽宁、贵州、江西、江苏、浙江和广西等省市航空航天学会联办的2005上海航空航天电子设备国际展览会暨航空航天电子论坛(Avionics Exhibition&Forum,2005Shanghai)(以下简称“2005上海航空航天电子展”)将于2005年12月12日—15日在上海展览中心举行。这次展会将邀请国内外著名航空航天电子公司、厂商和科研机构参加产品展览和论坛交流。“2005上海航空航天电子展”展览范围与论坛征文范围为:1.机载航空与航天电子系统;2.地面系统;3.空域管理;4.机场设备与系统;5.卫星系统与应用;6.仪表…     

地球同步卫星充/放电对电子设备的危害及其防护措施

本文简要地介绍了国外对同步卫星充/放电现象开展的下述几方面研究工作:1.有关充/放电现象的试验工作;2.充/放电对电子设备的损伤;3.为减轻损伤而采取的防护措施;4.地面模拟试验。供从事这方面工作的同志参考。     

S模式应答机自动测试系统研究

阐述了自动测试技术在航空电子设备维修中的应用,讨论了以控制计算机为核心的Ｓ模式应答机自动测试系统的硬件组成、软件开发中的技术难点和实现方法,最后,给出研究结果。     

对HB 7089-94中几个问题的探讨

ＨＢ７０８９《航空电子设备完整性大纲要求》提出了一些新颖的概念,提供了一套科学的设计方法和管理程序,开辟了提高航空电子设备质量的新途径。概括介绍了航空电子设备完整性大纲的主要内容及其所要求的分析和试验工作。分析对比了完整性与可靠性在定义、属性、失效机理、故障模式、维修策略、分析和试验要求,以及完整性大纲与可靠性大纲在目标、要求、内容方面的主要差别。指出完整性和可靠性都是设备的一种特性,而前者涵盖了后者。编制、实施ＡＶＩＰ和可靠性大纲是提高航空电子设备质量的不同途径,对于任务和安全关键设备而言,实施ＡＶＩＰ效果更好。     

高可靠性的保证--HB 7089<航空电子设备完整性大纲要求>

在分析航空电子设备故障机理及常规可靠性设计为什么不能满足要求的基础上,说明了参照ＭＩＬ－Ａ－８７２４４Ａ制定的,提出了指导航空电子系统可靠性设计新方法的ＨＢ７０８９的主要特点,如：采用损伤容限和耐久性设计、采用并行设计制造工艺、对关键设备进行预防性维修。ＨＢ７０８９的完整性设计要点为：定义使用环境,确定元件、零件和材料的特性,制定设计准则,对耐久性及损伤容限进行控制以及进行寿命管理等。我国应大力宣传ＡＶＩＰ的优越性,进行有关技术培训,推行系统工程方法等,以促进ＡＶＩＰ在航空工业的广泛实施。     

机载电子设备故障模式及预防排除研究

以"更贴近实战"为基本出发点,结合典型数据,详细分析了机载电子设备的主要故障模式,并结合修理经验制定了相应的技术措施.     

一种星载电子设备的通用化自动测试系统的设计

为了解决传统卫星载荷测试系统通用性、兼容性差,测试覆盖性不足以及自动化程度低的问题,设计了一种基于开放式硬件和软件设计的通用化自动测试系统.该系统构建了通用的硬件平台以适应不同的数据接口,同时提供了模块化、开放式、可配置的软件平台,可满足不同卫星型号载荷的测试需求.并行测试的结果表明,该系统在保证产品质量的前提下,能大...     

ADS-B系统中GDL90通用收发机故障分析与排除

广播式自动相关监视系统(ADS-B)是新航行系统方案中的一种监视技术,它以先进的地空/空空数据链为通信手段,以GPS导航系统及其他机载设备产生的信息为数据源,通过对外发送自身的状态参数,并接收其他飞机的广播信息,达到飞机间的互相感知,进而实现对周围空域交通状况全面、详细的了解.     

民用飞机综合航电系统技术发展研究

本文介绍了民用飞机综合航电系统技术的研究现状和发展趋势,从集成模块化航空电子设备、开放式结构和先进数据总线等几个方面阐述了其特点,并探讨了该系统的关键技术。     

综合应力加速贮存试验方案优化设计

针对电子产品在贮存过程中受到的复杂环境应力及现阶段主要采用单应力加速贮存试验的现状,提出一种基于累积损伤理论的温度-湿度步降加速贮存试验方案的优化设计方法。以电子设备正常应力水平下中位寿命估计值的最小渐近方差为目标,以各加速应力水平为设计变量,结合极大似然估计理论,建立了温度-湿度综合应力加速贮存试验方案优化设计的数学模型。对某电度表的综合应力加速贮存试验进行优化设计,利用遗传算法解得k=5时的方案为最优方案。利用Monte Carlo仿真进一步证明k=5时的方案为最优方案。经优化后的试验方案不仅可以满足小样本综合应力加速贮存试验的优化设计,而且能够保证试验数据的估计精度,减少试验次数,缩短试验时间和节约费用。