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介绍了无损检验技术的现状及对未来5~20年发展趋势的分析。无损检验技术用来对零部件进行定量测量,它包括一系列检验方法,如X射线、超声、目视、电磁、声发射、磁粉 相似文献
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介绍一种以线性调频半导体激光为光源的衍射光栅干涉仪。激光与光栅上衍射的±1级衍射波会合,由于有光程差而发生光拍频,测量拍频信号的相位移则可测得光栅的位移。设计了一种克服激光波长漂移和空气折射率变化影响的对称差动光路,使这种方法达到实用化的程度,分辨力达到纳米级。此外,还介绍了应用于接触干涉仪的实验情况。 相似文献
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基于改进SAC-IA算法的激光点云粗配准 总被引:1,自引:0,他引:1
针对传统采样一致性初始配准(SAC-IA)算法存在收敛速度慢与精度不高等问题,提出一种改进SAC-IA算法。该算法利用扫描角限定方法对特征点选取进行几何约束;配准后两站点云特征点的FPFH直方图差值、欧氏距离差值和几何斜率差值同时作为误差修正标准;当变换矩阵满足精配准初始角度和平移要求时才输出该矩阵。通过实验仿真:该算法有效解决样点共线和局部的问题,有效缩短了算法时间,效率提高1倍以上;提供给精配准初始角度精度在10~(-2)量级,平移量精度提高3个数量级。 相似文献
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