发射消息

阿里安5ECA火箭10月13日在法属圭亚那库鲁发射了美国直播电视公司的“直播电视”9S和澳大利亚澳普图斯公司的“澳普图斯”D1两颗通信卫星。火箭上还配备了“阿里安5辅助有效载荷结构”（ASAP-5），用于展开日本宇宙航空研究开发机构的“大型展开式反射器实验件”（LDREX）2。“直播电视”9S由劳拉空间系统公司建造，采用LS-1300平台，起飞重量5535公斤，载52台大功率Ku波段转发器和2台Ka波段转发器，拟定点于西经101度轨位，将利用数字压缩技术提供直播电视服务，寿命15年。     

《中国航天》2006年1-12期合订本

英国萨里卫星技术有限公司已得到了欧空局一份关键性的研制合同．将继续研制一种静地小卫星平台，从而使该公司的技术专长进一步拓展到低地轨道以外的地方。这份合同价值228万欧元。它为萨里公司继续推进正在开展的“静地小卫星平台”（GMP）工作提供了一次宝贵的机会。     

美国的空间对抗装备技术(下)

3.机载动能反卫星系统1976年美国空军开始发展由F-15战斗机携带的空射型直接上升式动能反卫星武器。在由F-15发射后,寻的拦截器与发动机分离,通过长波红外探测器     

国外先进运载技术创新研究

从1957年前苏联使用东方号运载火箭发射人类第一颗人造卫星至今,世界运载技术的发展已走过了40多年的历史。在此期间,以美国、俄罗斯、欧洲为代表的世界各国和地区先后研制了数十种运载火箭,进行了3000余次发射。运载技术不断发展创新,日益提高,从早期的由地地战略导弹改造的小型运载火箭发展到今天的大型商用运载火箭,运载能力逐步增强,发射成本逐步降低,可靠性逐步提高。目前,世界航天大国竞相发展新一代航天运载工具,多项新计划正在进行之中,多种新型号陆续投入使用,21世纪运载技术将进一步取得巨大发展。21世纪初,我国运载技术的发展也…     

SPACEBUS3000卫星平台及其测控系统

介绍了法国宇航公司ＡＥＲＯＳＰＡＴＩＡＬＥ研制的通信卫星平台ＳＰＡＣＥＢＵＳ３０００的主要电子系统结构和功能，着重介绍了它的测控系统部分，包括数管子系统和射频子系统的详细结构和功能划分，以及它们的设计方案。     

动态推力频域恢复技术

介绍了固体火箭发动机静止试验动态推力的测量方法。首先对试验台架和发动机进行动态校准得到系统的响应函数，然后利用频率响应函数对试验过程中测到的输出力函数进行恢复，以获得真实的输入力函数。实践证明，频域恢复技术是有效的途径之一。     

非圆曲线数控加工计算机辅助编程预处理

在数控加工编程时,对非圆曲线和列表曲线需要进行曲线的拟合处理。对于列表曲线、型值点,采用最小二乘法修正,并以累积弦长为参数的三次样条为拟合样条。对椭圆曲线和抛物线,利用过焦点的一簇直线进行不均匀划分。按齿廓成形原理,对圆柱齿轮齿廓进行分段,以实际曲线与拟合曲线在法线方向的偏差作为拟合误差,确定合理的分段数量,输出曲线双圆弧拟合后结果。     

中国宇航学会无人飞行器学会电磁信息技术专业委员会首届年会胜利召开

20 0 4年 1月 6日 ,中国宇航学会无人飞行器学会电磁信息技术专业委员会首届 ( 2 0 0 3)年会在海南博鳌召开。出席会议的有张履谦院士、钟山院士、毛二可院士和张乃通院士 ,有关领导、本专业委员会成员及 40个单位共 76位代表。会议由专业委员会副主任委员毛黎明主持 ,航天科技集团公司八院朱芝松副院长致大会开幕词 ,钟山院士宣读了中国宇航学会的贺信 ,并代表无人飞行器学会致贺词 ,陶本仁主任委员代表专业委员会向大会做了“电磁信息技术专业委员会 2 0 0 3年工作报告”。四位院士在大会上分别做了“军用卫星通信技术进展及其对抗”、“…     

液体火箭推进技术研究工作的进展

第三届国际液体火箭推进会议于1997年8月11日至13日在北京举行,中、美、俄、法、德、英、意等国航天专家、学者一百多人参加了这次会议。会上发表论文35篇,内容涉及主级推进、上面级和航天器推进、理论和试验研究、以及未来空闻探索的推进技术等。中国航天工业总公司高级技术顾问任新民院士任本届会议主席,他在会议开幕词中回顾了世界液体火箭推进技术的发展历程,并展望了21世纪液体火箭推进技术的发展前景。在此会议上发表的论文,集中地反映了近年来在液体火箭推进技术研究工作中所取得的进展。论文学术永平较高,并具有相当的深度,这对我国液体火箭推进技术今后的发展有一定的参考和借鉴作用。下面着重在几个方面作简要述评,并结合我国实际情况对今后工作提出一些想法和建议。     

采用SAC技术提高电子设备可靠性

给出了“筛选、分析与纠正”（ＳｃｒｅｅｎｉｎｇＡｎａｌｙｓｉｓａｎｄＣｏｒｅｃｔｉｏｎ）技术的要点、应用范畴和常规ＳＡＣ应力的典型值。举例说明应用常规ＳＡＣ技术提高导弹电子舱段可靠性的效果。分析认为，ＳＡＣ技术是提高电子设备可靠性的新手段，它与可靠性增长试验有相似作用。应用表明，可靠性增长十分明显。