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微波辐射计的观测精度及其对数值模式同化应用的影响评估是微波辐射计观测指标设计的重要参考。基于微波探测仪(ATMS)资料,利用三维变分同化系统模拟分析在轨微波辐射计的观测精度指标。针对ATMS观测误差特征,在其观测基础上增加均值为零、标准偏差分别为0.5,1.0,1.5,2.0K的正态随机扰动,进而获得不同精度的观测模拟值序列,然后利用Harris和Kelley的辐射资料偏差订正经验方法订正不同精度的观测资料。偏差订正后,利用三维变分同化模式(WRFDA)直接同化ATMS资料。通过2016年6月6h预报场的同化试验,评估了不同观测精度的模拟资料对数值模式的同化影响。 相似文献
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机载聚束式SAR天线波束指向控制分析 总被引:2,自引:0,他引:2
建立波束控制条件下的机载聚束式SAR的天线指向及成像数学模型,证实天线波束指向被控造成回波信号的幅度调制,引起成对回波,从而影响成像质量。此外,分析波束指向控制比率与测绘带方位宽度、图像动态范围的制约关系,提出设计机载聚束式SAR天线波束指向控制比率的基本原则。最后,通过计算机仿真,验证理论分析的正确性。 相似文献
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航天铝基复合材料零部件超精密加工技术研究 总被引:2,自引:0,他引:2
针对航天高碳化硅铝基复合材料零部件采用聚晶金刚石PCD刀具进行了超精密车削加工试验,用原子力显微镜AFM和扫描电子显微镜对其进行了检测,分析了零部件表面粗糙度值的大小及影响因素、SiCw变形破坏机理、已加工表面微观结构及加工变质层特性。结果表明,超精密车削高碳化硅铝基复合材料零部件可以获得超精密级加工表面(如Ra11.5nm);超精密车削过程中SiC,存在着三种主要变形破坏机理:直接剪断型、拔出型和压入型,且以直接剪断型为主。直接剪断的SiCw对表面粗糙度值影响最小,而后二者是影响表面粗糙度值达到超精密级的主要障碍;超精密加工零部件表面仍会产生很薄的加工变质层。 相似文献
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光机扫描仪像质评价与优化设计 总被引:1,自引:0,他引:1
光机扫描仪通过光机扫描和平台运动获取图像。虽然推扫式成像仪应用越来越普遍,但光机扫描仪在很多领域一直广泛应用。文章对光机扫描仪的像质评价和优化设计问题进行了探讨。首先对光机扫描仪空间分辨率和辐射分辨率的评价方法和需求优化进行了探讨,然后以中巴地球资源卫星(CBERS)红外多光谱扫描仪(IRMSS)为例,介绍了通过对GSD、MTF和SNR进行折中考虑来对光机扫描仪进行优化设计的思路。 相似文献
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浅谈温度变化对光学镜面的影响 总被引:2,自引:0,他引:2
环境温度变化将导致光学镜内的温度分布发生变化,文章分析了光学镜内不同的温度分布对其面形造成的危害,以及对光学系统成像质量的影响,对空间光学系统光学镜温度场设计具有一定参考价值. 相似文献