光纤器件回波损耗测量系统分析

介绍了各种光纤器件（光无源器件、有源器件、光纤集成器件等）回波损耗的测量原理和测量方法。提出了一些关键技术的解决方法和试验方案。对各种不确定因素进行了分析和试验验证,最终建立了一套光纤器件回波损耗测量装置。     

直流电阻测试仪电阻示值误差测量结果的不确定度评定

介绍了一种利用直流标准电阻检定电阻测试仪电阻示值误差测量结果的不确定度评定方法。     

一种雷达成像孔径渡越时间的测量方法

在对固态相控阵雷达成像的孔径渡越时间补偿研究的基础上,提出了一种新的基于回波信号的孔径渡越时间测量方法,通过测量子阵间回波的相位差曲线斜率,计算出孔径渡越的延迟时间和子阵中心的位置。最后采用试验数据验证了该方法的正确性。     

一种改进的巡视器惯性/视觉组合导航模型

在传统的以惯性与视觉相对运动参数差为观测量的惯性/视觉组合导航模型中,为了得到简单的观测矩阵,惯性相对旋转四元数与平台失准角之间的函数关系往往通过近似处理得到。但当航向角较大时,该近似处理的误差很大,不可忽略。为解决该问题,文章提出了一种不需该近似处理的改进的观测量误差分析方法,并建立了改进的观测模型。该方法利用含误差的惯性姿态已知的特点,得到了更精确的惯性相对旋转四元数误差表达式,减少了Kalman滤波中惯性与视觉相对旋转差的状态模型预测误差。月面仿真和地面试验表明该改进方法相比传统方法可实现更高的导航精度,其中位置精度提高达68%。     

基于激光测振仪分离装置测量方法研究

针对目前采用的高速摄像测量方法存在误差较大与操作困难问题,提出了一种基于激光测振仪的新型测量方法,可以有效提高分离装置试验测量精度,为后续分离装置机构精确设计奠定基础。     

中段目标高分辨距离像姿态敏感性影响度量方法

高分辨距离像（HRRP）存在散射中心模型改变、越距离单元走动、闪烁现象三个方面的姿态敏感性,同时影响距离像预处理、特征选择、模板生成等方面。为了区分不同姿态敏感性对距离像识别的影响,从而研究针对性的解决办法,首先在识别理论框架下,建立了“HRRP姿态敏感性影响水平统计模型”作为姿态敏感性对目标识别性能影响的定量分析工具。其次,针对弹道中段目标识别问题,定量分析了中段目标HRRP的姿态敏感性。暗室实测数据表明,闪烁现象与越距离单元走动对HRRP识别的影响程度相近。最后,通过比较聚类模板生成算法和邻近姿态角模板生成算法,验证了基于姿态敏感性影响水平分析方法的有效性。此分析方法对于弹道中段目标识别具有一定的参考价值。     

脉冲重复间隔测量误差对SAR欺骗干扰成像的影响

脉冲重复间隔测量误差将导致干扰机发射与SAR接收之间无法保持同步,这将对干扰效果产生不利影响,研究这些影响对于SAR干扰机的研制与应用来说具有重要的参考价值。在此背景下,建立了脉冲重复间隔测量误差和干扰信号模型,推导了测量误差与假目标图像成像形状、位置和分辨率关系的解析表达式,分析了有可能出现的干扰结果。仿真实验验证了理论分析的正确性。     

一种高声强校准装置的高声强级测量不确定度评定方法

介绍了一种高声强级发生及测量方法、数学模型及其测量不确定度的评定方法,并给出了不确定度评定实例及验证结果。     

一种运载火箭上升段轨迹的高精度确定方法

针对运载火箭上升段轨迹建模问题,采用自由节点样条模型描述轨迹变化规律,将轨迹确定中的参数估计转化为对样条函数系数估计,从而大量减少待估参数个数,有效提高参数估计精度。在此基础上,提出利用遗传算法优选测量元素的方法。在基本遗传算法框架下,通过对测量元素进行染色体编码、构造基于加权排序的适应值函数以及设计改进的比例选择算子,对整个测量元素组合空间进行充分搜索寻优。利用典型上升段轨迹和布站对该方法进行数值仿真,结果表明,本文提出的新方法比现有方法的位置确定精度提高了92.0%~94.4%;在均采用自由节点样条模型进行融合轨迹确定时,新方法比典型测元融合解算的位置确定精度也提高了16.4%～88.6%。     

一种由压电双晶片测量压电材料参数的动态模型

根据悬臂梁式压电双晶片的动态导纳矩阵 ,提出一种压电材料参数动态测试模型 ,用于测量压电双晶片的几个主要材料参数 :压电应变常数d3 1、机电耦合系数k3 1、介电常数εT3 3 、弹性柔顺系数sE11及材料参数的温度特性。这种测量方法不同于通常的由标准试样测量压电材料参数的方法 ,它直接由一种实用元件—压电双晶片 (非标准试样 )测量压电材料的参数。介绍了测试原理、测试步骤及一种实际试样的测试结果。理论与实验结果表明 :这种新的测试方法是可行的。