带电粒子辐照对热控涂层的光学性能退化影响

带电粒子辐照将引起材料折射率和消光系数的变化。文章首先介绍了带电粒子在热控涂层中的剂量深度分布,接着利用渐变折射率概念建立了剂量深度分布和材料折射率与消光系数的关系,给出了热控涂层光学性能变化的分析模型,最后对这一理论的应用进行了讨论。     

预辐照与等离子体对炭纤维表面接枝改性研究

分别采用γ射线预辐照接枝丙烯酸和等离子体接枝丙烯酸的方法对炭纤维表面进行处理.分别利用扫描电子显微镜(SEM)和X射线光电子能谱(XPS)对2种改性方法处理前后炭纤维表面物理化学状态进行表征;通过层间剪切强度对炭纤维表面改性效果进行评价;并对2种改性方法接枝过程进行了初步探讨.γ射线预辐照接枝和等离子体接枝均对纤维表面产生了刻蚀,并在纤维表面引入了含氧官能团,增加了炭纤维与树脂基体间的界面粘接性能;虽然γ射线预辐照接枝的处理效果略低于等离子体,但前者具有低成本、便于批量化处理和强化纤维本体强度的优点,是一种非常有前景的炭纤维表面改性方法.     

抗辐照PROM 6617在单片机中的具体应用

美国ＨＡＲＩＳ的程序器ＰＲＯＭ６６１７由于其芯片管脚及功能与ＥＰＲＯＭ２７１６完全兼容且又具有耐辐照性能而日渐被航天设计人员所认识和应用。但其内部结构又与２７１６所不同，若忽视这一点，只因管脚和功能完全兼容而用２７１６的典型应用电路设计６６１７的话，６６１７肯定无法正常工作。文章详细分析了６６１７的结构特点及其与２７１６的区别，并给出了其在８０Ｃ３１单片机中的具体应用电路及其与２７１６兼容使用的电     

空间带电粒子辐照效应的地面加速试验研究

空间带电粒子辐照下空间材料的损伤与失效是空间材料学研究的重要组成内容，地面模拟加速试验是研究材料辐照损伤效应的重要方法和技术途径。文章阐述了地面辐照加速试验的方法及相关概念，以光学石英玻璃为例验证辐照加速试验与模拟等效区间的概念，为当前研究材料在空间带电粒子辐照环境条件下的行为与航天器设计、选材提供科学依据。     

含磷聚酰亚胺薄膜在原子氧环境中的降解研究

文章考察了自行合成的含磷聚酰亚胺（PI）薄膜在模拟原子氧环境中的降解行为。扫描电子显微镜（SEM）、X射线光电子能谱（XPS）等测试结果表明:在原子氧辐照过程中,含磷PI薄膜表面的磷元素与氧元素含量增加,原子结合能也增大,意味着在PI表面形成了含磷钝化层。该钝化层进一步阻止了PI次表面层被侵蚀,使含磷PI薄膜表现出了抗原子氧侵蚀能力,其在模拟原子氧环境中的质量损失率远低于Kapton薄膜。     

原子氧辐照下GF/PI和nano-TiO2/GF/PI复合 材料的摩擦学性能研究

文章研究了原子氧辐照下GF/PI和nano-TiO₂/GF/PI复合材料的摩擦学性能,结合结构分析探讨了原子氧辐照对其摩擦学性能的影响机理。研究发现原子氧辐照能够破坏复合材料表面的树脂基体分子链,引起复合材料表面结构发生变化。原子氧辐照对PI复合材料的摩擦系数影响不大,但有使其磨损率降低的趋势,这可以归因于复合材料表面化学结构和组成的变化对对偶钢环上的转移膜所产生的影响。     

空间环境与碳/环氧复合材料交互作用的研究现状

随着航天技术的迅速发展,要求航天器长寿命、高可靠性、高精度和多用途,这对航天器所用材料的性能提出了越来越高的要求。碳/环氧复合材料不仅具有密度小、比强度和比刚度高等特点,而且在真空条件下质损率低,热膨胀系数小,在航天领域得到了越来越广泛的应用。在大多数的空间环境因素的长期作用下,碳/环氧复合材料的各项性能将发生变化,进而会对航天器在轨服役的可靠性及寿命产生影响。     

高能X射线辐照材料的SPH数值模拟

高能脉冲X射线辐照材料时,能量沉积会使材料表层发生气化,并在材料内部形成高压热击波。目前一般采用差分方法对高压热击波过程进行数值模拟。文章尝试采用光滑粒子流体动力学（SPH）方法对X射线辐照材料进行数值模拟,由于材料表层的气化膨胀所致,膨胀后的粒子体积是原来的几十倍甚至上百倍,产生粒子大变形的粒子穿透现象;分析了产生粒子穿透现象的主要原因是气化边界处密度计算公式不合适所致,为此对密度计算公式进行了改进,并开展了基于改进密度计算公式的两种方法的数值模拟,两种方法的计算结果比较一致。     

《强激光对飞行器的毁伤效应》图书出版

北京强度环境研究所专家李清源编著的图书《强激光对飞行器的毁伤效应》由中国宇航出版社在2012年9月出版。本书结合宇航飞行器结构的特点,对国内外定向能强激光武器与其辐照引起的效应的研究工作进行了比较系统的整理与总结,以宇航飞行器结构常用的典型材料与结构元部件为研究对象,借助于实验（数据）与理论（分析、模型）,研讨材料和结构在激光辐照下的毁伤模式、机理与毁伤阀值,评估其生存能力与加固技术措施,并提出了激光辐照试验缩比相似准则——Ⅱ定律。     

应用于空间粒子探测的Si-PIN传感器电子辐照测试

长期的高能电子辐照会对Si-PIN传感器探测性能造成影响,为了考核应用器件耐电子辐照能力,采用电子辐照源模拟空间电子环境对半导体传感器进行辐照试验.试验结果表明:传感器在接收7.64×1014辐照剂量情况下,传感器能量响应能力未发生改变,计数效率稍有下降;随着辐照剂量的增大,虽然传感器漏电流不断增大,但是噪声水平较平稳,传感器的性能不影响载荷工作指标.