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971.
本文介绍马可尼公司有关8502电子战环境模拟器的性能及其组成框图。该模拟器具有模拟未来可能出现的各种复杂、密集的电磁威胁环境的能力,可用于电子战设备的测试和评估、训练操作人员等。  相似文献   
972.
由于平台导线断裂事故,导致禁用冷剥脱头工艺。但由于装配结构、安全及劳动保护的原因,必需采取冷剥脱头工艺。经精选剥线钳并进行工艺研究试验,证明在“质量保证措施”的保证下,冷剥脱头工艺可达到1979年《美国波音公司电子工艺标准手册》所定标准,并根据装配多发产品,发发成功的实践经验。已在长征三号装配过程中使用冷剥脱头工艺。  相似文献   
973.
本文阐述了运载火箭电子设备的工作环境,介绍了提高电子设备可靠性的三种地面试验方法。  相似文献   
974.
某型导弹武器系统贮存性分析   总被引:1,自引:0,他引:1  
论述导弹武器系统的贮存保险期的重要性,给出了贮存和保险期的定义.以表格形式给出了贮存条件的环境因素对导弹武器系统的影响.介绍了我国某型导弹武器系统的贮存保险期的确定原则和贮存试验情况.贮存试验包括:长期、舰上3个月贮存、发动机5年贮存、制导站和其他地面设备5年贮存试验.建议合理制定武器系统各子系统的保险期,提出子系统的保险期应高于全系统的保险期.最后提出要加强对实验室模拟试验的研究.  相似文献   
975.
976.
简要介绍了空间对接机构在研制过程中所必须的一些基本试验类型和内容,并对所需专用试验设备做了一定的分析。  相似文献   
977.
在不同剂量率下进行辐照试验,半导体器件的失效剂量和失效机理可能不同。文章对国产非加固 CMOS 电路 CC4007分别在低剂量率和高剂量率下进行辐照试验,并将试验结果进行比较。辐照剂量率为0.0001、0.001、1Gy(Si)/s。对高剂量率辐照的器件进行了100℃168h 退火试验。试验结果表明,在低剂量率下辐照器件电参数退化相对小些,但失效模式同高剂量率下的一样,失效是由于静态漏电大。试验还表明对国产非加固 CMOS 电路用高剂量率辐照试验进行评估是不准确的。  相似文献   
978.
根据星载有效载荷的工作环境及其印刷插件板的设计形式,对有/无加强筋的印制插件权分别用空间飞行器结构有限元分析程序(EDASS)进行仿真试验和力学分析,同时也进行了实物振动试验。最后对两种试验的结果进行了比较。  相似文献   
979.
讨论了环境试验在保证航天器质量和可靠性中所起的作用,航天器环境试验和可靠性试验的关系,并对如何更好发挥环境试验的作用提出了看法。  相似文献   
980.
探讨了环境应力筛选(ESS)试验的条件和方法,并对筛选应力的确定与我所近十年的有关实践与体会进行了总结。  相似文献   
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