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141.
142.
SRAM型存储器空间应用通常采取纠一检二(SEC-DED)的方法,克服空间单粒子翻转(SEU)对其产生的影响。随着SRAM型存储器工艺尺寸的减小、核心电压的降低,空间高能粒子容易引起存储器单个基本字多位翻转(SWMU),导致SEC-DED防护方法失效。在研究辐射效应引起的SRAM型存储器多位翻转模式特点的基础上,提出一种基于改进型(14,8)循环码的系统级纠正一位随机错和两位、三位突发错同时检测随机两位错(SEC-DED-TAEC)的系统级容错方法。基于该方法的存储器系统容错设计具有实现简单、实时性高的特点,已成功应用于某型号空间自寻的信息处理系统。仿真试验及实际应用表明,该方法可以有效防护SRAM型存储器件SWMU错误,有效提高了空间信息处理系统可靠性,可以为其它空间电子系统设计提供参考。 相似文献
143.
144.
针对直接数字频率合成(DDS)技术不适于单片机直接实现的问题,提出了一种波形信号生成的整周期循环法。借助片内嵌有直接存储器存取控制器(DMA)和数模转换器(DAC)等外设的单片机,该方法可以在不引入DDS专用芯片的情况下直接生成预设波形信号,且在生成信号时完全不占用单片机的CPU时间。对生成波形信号的整周期循环法进行了理论分析,导出了生成信号的频率及最大相对频偏公式,给出了算法实现流程。采用STM32单片机对整周期循环法生成正弦信号进行了实验测试。实验表明生成信号的频率精度高,且波形稳定、质量好。 相似文献