试飞成功的光纤数据总线

本文介绍了国内首次一次试飞成功的光纤数据总线的拓扑结构和系统所挂的子系统。阐述了该拓扑结构的性能、通路器的设计原理以及试飞的情况。最后给出了鉴定委员会对该总线的评价     

众眼看宇宙——‘众目睽睽’猎户座

猎户座大星云：行星际的保护：X射线超闪有助于“太阳系”的形成；钱德拉对猎户座大星云的全景X射线图像；甚大望远镜对猎户座大星云的近景红外图像；哈勃对猎户座大星云拍摄的最锐利图像；猎户座大星云里的抽象艺术。     

2024–T351铝合金激光冲击微观组织强化机制分析

激光冲击强化在航空制造业中具有广泛的应用前景,研究其强化机制对认识工艺过程材料响应行为,合理规划激光冲击强化工艺具有重要意义。采用电子背散射衍射与X射线衍射表征激光冲击强化材料微观组织演化状态,对微观组织强化机制进行分析。通过室温拉伸试验对激光冲击强化2024–T351铝合金试样进行测试,研究其对铝合金力学性能的影响。研究结果表明,激光冲击强化通过引入应变梯度在材料中引起轧制方向晶粒断裂并生成小角度晶界,同时引发统计存储位错大量增殖。激光冲击强化主要通过位错强化机制提升材料的屈服强度与抗拉强度,细晶强化与固溶强化机制贡献不显著。     

脉冲星角位置强度关联测量聚焦光学系统

脉冲星导航为未来深空探测与导航提供一种可能途径,采用X射线强度关联方法对脉冲星角位置进行高精度测量,可适应高精度时空基准系统构建的发展需求,从理论上提高导航精度。X射线聚焦光学系统是脉冲星高精度测量与探测设备的核心部件,通过高效率聚焦实现对脉冲星极弱X射线光子流量的增强。首先,针对脉冲星角位置强度关联测量地面试验需求,开展了多层嵌套X射线聚焦光学系统的光学设计与性能分析,获得了设计参数对有效面积和角分辨率的影响关系,确定了反射镜几何参数与反射面材料;其次,确定了聚焦光学系统的总体制造误差标准,对高频误差和中低频误差分别进行了分配;然后,采用电铸镍复制工艺加工了超光滑芯轴与反射镜,测试了芯轴的粗糙度和面形误差,利用北京同步辐射光源测试了反射镜的反射率;最后,搭建了原位精密装调装置,完成了多层嵌套反射镜精密装调,实测角分辨率达到12.16″。经强度关联测量试验验证,聚焦光学系统显著提高了探测器接收的光子个数,满足脉冲星角位置强度关联测量的要求。     

X射线脉冲星4U 1538—52 的时间和能谱特性

本文处理分析了EXOSAT卫星对4U1538-524次中能观测资料,并结合其他观测结果对4U1538-52的时间和能谱特性作了分析和解释:中子星自转仍在减慢;能谱为幂律谱,Tenma卫星以后的观测未见Fe发射线;X射线dip现象可解释为一前景星对中子星的遮掩而形成;X射线爆发在不同的轨道位相出现,持续近1小时;在1keV附近似有一发射线。      

304奥氏体不锈钢喷丸引起的组织转变和两相残余应力测定

采用X射线衍射技术研究了304奥氏体不锈钢喷丸过程所引起的组织结构变化以及两相组织中每相的残余应力。试验结果表明,喷丸强化可使亚稳态304奥氏体材料表面发生γ→α转变,在相同的喷丸强度下转变量与喷丸弹丸种类规格关系很大,而且与喷丸时间有关;表面两相组织γ和α相各自的残余应力可采用X射线衍射应力仪进行测定,两相的残余应力数值相差很大。     

用蒙特卡罗方法求解航天器的有效太阳辐照面积

文章利用蒙特卡罗射线踪迹方法,建立复杂几何构型航天器在遭受太阳辐照下辐照面积的数学模型,对KFTA小太阳模拟器内太阳光入射条件下的航天器辐照面积进行数值模拟,解决了温度场求解中太阳对航天器表面直接投射的关键问题。计算结果表明：此方法提出了求解太阳入射辐射的新思路,将原来复杂的解析过程简化为几个概率模型。     

半透明吸收、散射性介质内辐射传递系数的新型计算方法

为考虑半透明吸收、散射性介质内各向同性散射对辐射能量传递过程的影响，通过对辐射能量传递过程的分解，提出了一种基于辐射能量传递过程分解的射线踪迹法，该计算方法无需引入预设控制精度参数。经与其他计算方法的比较表明，该新型计算方法正确，计算精度高、计算时间短，可以用于研究介质内辐射能量传递过程的研究。     

基于厚壁工件X射线实时成像的焊缝缺陷自动检测

基于X射线成像的焊缝缺陷自动检测技术对提高工业射线检测的自动化水平具有重要意义。焊缝缺陷在线连续检测的实时性要求较高,随着工件厚度的增加,其焊缝X射线实时图像的信噪比变得很低,使得已有的处理算法难以满足实时性以及有效处理缺陷误检与漏检之间的矛盾。针对这些问题,在分析了传统方法在厚壁工件X射线图像焊缝缺陷自动检测中存在的问题基础上,对传统方法进行了改进,提出了双阈值背景消除法和平行焊接方向波形分析法,然后利用所提出算法之间的冗余性和互补性,融合多种分割结果以解决缺陷误检与漏检之间的矛盾。试验结果表明,所提出的缺陷自动检测方法能够在满足实时性要求的同时,实现缺陷检出,有效避免误检。     

X 射线衍射全谱拟合定量分析方法研究

利用X射线衍射仪对不同配比的Si和TiO2样品进行分析,通过三种定量分析方法(峰高法、积分强度法、全谱结构拟合法)进行计算,并进行误差分析。结果表明:三种定量分析方法中,全谱结构拟合法最优,相对误差为±2%(n=3),误差最小。X射线衍射全谱拟合法是一种精确,快速的定量方法。