提高电位计骨架表面处理质量的有效措施

电位计骨架在机加、表面处理的绝缘氧化及浸绝缘漆中,容易产生零件变形漆层“小漆瘤”、抗电试验易击穿等。 经过对工艺实践与质量控制,采取了针对性的措施,提高了产品合格率,较好地满足了设计要求。     

在六角车床上成组加工的最佳化

把工艺相似的零件归拼成族,并把这样的零件族按成组加工进行成批生产,可以缩短机床重新调整的时间。但是,改进机床在小批量生产中的利用问题在推广成组加工后仍然是一个现实问题。 选择零件族进行成批生产的最佳顺序可以进一步缩短辅助时间。本文介绍了最佳顺序与六角车床加工的有关经验。 当加工一批零件转到另一批零件时,六角车床的重新调整时间平均为20～60分钟。     

星载微波散射计模拟信号源技术

主要介绍了星载微波散射计接收的回波信号的特点和地球自转对回波信号的影响,以及在微波散射计的实验过程中,模拟回波信号的基本要求及具体的实施方法,最后给出了结论。     

An improved quaternion Gauss–Newton algorithm for attitude determination using magnetometer and accelerometer

For the vector attitude determination, the traditional optimal algorithms which are based on quaternion estimator(QUEST) measurement noise model are complicated for just two observations. In our application, the magnetometer and accelerometer are not two comparable kinds of sensors and both are not small field-of-view sensors as well. So in this paper a new unit measurement model is derived. According to the Wahba problem, the optimal weights for each measurement are obtained by the error variance researches. Then an improved quaternion Gauss–Newton method is presented and adopted to acquire attitude. Eventually, simulation results and experimental validation employed to test the proposed method demonstrate the usefulness of the improved algorithm.     

反射激波作用下两种重气柱界面不稳定性实验研究

在水平方形激波管中对两种无膜重气柱界面（分别是SF6和氩气）在反射激波作用下的不稳定性发展进行了实验研究。气柱界面采用射流技术形成,实验采用连续激光片光源照射流场,乙二醇作为示踪粒子,并用高速摄像机对流场进行拍摄,获得了入射激波以及反射激波共同作用下,两种不同气柱界面的演化过程。实验结果表明,两种气柱的Atwood数不同,界面演化速率不同,反射激波到达前后的界面形态不同。SF6气柱在入射激波作用下会产生两个比较明显的反向的涡环结构,而氩气柱界面上由于产生的涡量较少,涡环结构并不明显。在反射激波作用下,SF6气柱界面会出现明显的次级涡对,而且次级涡对的旋转方向与初始涡环结构的旋转方向相反。对于氩气柱而言,在反射激波作用下虽然也产生了与初始涡环方向相反的次级涡对,但次级涡对始终未充分发展。这是因为反射激波作用时氩气柱界面的Atwood数较小导致氩气柱界面上产生的反向涡量较少。实验结果充分表明了气体Atwood数对界面不稳定性的发展起到了较大的影响。     

全内反射测速技术（TIRV）中界面隐失波基准光强I_0的确定

基于隐失波全内反射的测速技术TIRV（Total internal reflection velocimetry）是微纳流动中测量壁面附近几百纳米范围内速度的有效方法。隐失波的光强分布I（z）随离开壁面的高度z指数衰减。若荧光粒子位于光强分布中,其亮度也将符合此指数关系,通过测量粒子亮度可确定粒子的垂向位置z,而确定隐失波的基准光强I0是该技术的关键之一。基于粒子近壁Boltzmann浓度分布、粒子粒径不均匀性和隐失波光强公式,给出了粒子亮度概率密度分布的数值解。实验测量粒子统计亮度分布后,依据实验和理论分布相同原则可定量确定基准光强I0。采用100nm和250nm荧光粒子验证此方法并定量分析了粒径分散性对确定I0的影响。进一步采用100nm粒子进行近壁速度测量实验,结果验证了本方法的有效性。     

电磁波在吸波涂层中的干涉现象

文摘为研究电磁波在吸波涂层中的干涉现象,选取了X型羰基铁粉吸收剂,采用同轴法测试了材料电磁参数,通过多次反射方法求解了X型吸波涂层在厚度为1/4波长时反射系数公式;另外,求解了不同厚度X-1型吸波涂层对频率为9.5 GHz平面电磁波反射系数公式,取公式前6项计算了反射系数Γ_a和反射率R_a。结果表明,多次反射波之间产生了干涉行为,发生了干涉相消现象。Γ_a、R_a分别与传输线方法计算的Γ和R的值非常接近,表明Γ_a和R_a可以近似代表X-1型吸波涂层对9.5 GHz电磁波的反射系数和反射率。当X-1型吸波涂层厚度小于1.9 mm或在3.2～6.6 mm时,第二反射波对第一反射波起到干涉相长作用,降低吸波性能,表明优选的吸波涂层厚度应该介于1.9～3.2 mm。