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81.
采用七孔探针在低速风洞中对双三角翼截面和尾流进行流场测量,并进行翼表面测压试验,研究了75°/45°双三角翼在中等迎角到大迎角下的旋涡特性。试验表明,用七孔探针测量空间流场,结果准确可靠。75°/45°双三角翼的流态特点是,由于内翼涡对外翼涡的诱导作用,使外翼涡趋于稳定,在一定迎角下,两涡发生绕合与合并,随迎角增加,合并涡破裂点前移。 相似文献
82.
为了研究冲击压缩下用作电探针保护介质的甲烷气体状态参数 ,用二级轻气炮加载方法加速平面钨合金飞片到 4.77km/s、4.89km/s和 5 .0 5km/s,撞击封装有甲烷气体的铝靶。采用六通道瞬态光学高温计系统记录下甲烷气体的高温辐亮度历史 ,拟合出甲烷的表观辐亮度温度。给出了对应飞片速度下初始压力为 0 .1 2MPa的甲烷气体的冲击压缩参数。实验分析表明 ,强冲击波压缩下的甲烷波后温升较小 ,冲击波后的气体存在非平衡热辐射过程和非平衡化学反应区。分析认为 ,甲烷气体是优越的电探针保护气体 相似文献
83.
楔顶双孔探针测量跨声多级压气机转子出口三维动态流场的方法 总被引:2,自引:1,他引:2
发展了1种楔顶圆柱双孔高频压力探针测量三维动态流场的方法,并应用于某跨声速多级轴流压气机转子出口流场测量.该探针测量方法基于4孔针测量原理,通过旋转探针在3个角度测量的方法实现,并采用最小二乘拟合方法对探针气动校准数据进行处理,对拟合误差进行优化,得到最佳拟合阶次,进而获得精度较高的求解流场参数的近似函数.相比国内外同类探针,该楔顶圆柱双孔高频压力探针尺寸小、频响快、测量范围宽、测量精度高.借助高速锁相数据采集技术,利用该探针测量了某跨声速多级压气机转子出口三维动态流场,测量结果反映了该转子流动特征,提供了转子出口气流偏转角、俯仰角、总压、马赫数分布,并为优化压气机级间匹配指明了方向,为压气机流场诊断提供了一套行之有效的测量手段,验证了该高频压力探针测量技术的工程应用价值. 相似文献
84.
采用光纤探针测量方法对垂直上升管中空气-水两相流动的局部截面含气率分布规律进行了研究。实验选用的管径为100mm,气相、液相表观速度的范围分别为0~0.1m/s和0~1.0m/s。在对光纤探针法的测量精度进行评价和标定基础上,利用实验获得的截面含气率和气泡速度径向分布信息,得出了分布参数与漂移速度,在此基础上对几类漂移流模型进行评价,发现漂移速度的计算方法不同是导致几类模型计算结果存在较大差异的主要原因;综合比较结果表明,Hibiki-Ishii(2003)漂移流模型计算截面含气率具有较高的精度。 相似文献
85.
86.
87.
压气机内部流动具有很强的非定常特征,尤其是小尺寸发动机叶片通过频率高达30~80 kHz,而动态压力探针的响应频率只能与叶片通过频率相当,采用其测量不易获得具体的高频流场结构.为了研究这种欠频响情况下测得流场与真实流场的差异,以某低速压气机为对象进行了模拟研究.采用频响为420 Hz的动态压力探针及频响大干33 kHz的单斜丝热线探针,测量了叶片通过频率为303 Hz的转子出口流场.修正了动态压力探针的容腔效应对测得流场的影响,校验了在测试系统响应频率较低时,修正后流场与热线测得的参考流场之间的差异.对比结果表明:原始流场压力信号的部分频率成分产生了较大偏差,出口截面流场的周向位置有较大误差.经修正后,周向位置较为准确,泄漏堵塞区域形态以及强度都与参考流场的更为接近,但由于尾迹区存在部分高频,修正后结果与参考流场的差异仍较明显. 相似文献
88.
为了探究内燃波转子工作过程中复杂波系及火焰的传播特性,采用乙烯为燃料进行了内燃波转子多循环工作过程实验研究。依据实验中采集到的离子探针信号、压力传感器信号和高速摄影照片来分析波转子通道内的复杂波和火焰的传播特性,同时更换波转子通道内的不同扰流片结构来探究其对复杂波系和火焰传播特性的影响。研究结果表明:波转子通道内波与火焰存在一个动态过程,且火焰与波峰的间距越来越小,加入扰流片后火焰速度与压力波的强度明显增加。堵塞比为38.91%时,PT2处压力峰值可以达到1.56MPa。堵塞比为31.13%时,平均火焰传播速度能达到36.95m/s。 相似文献
89.
针对1种用于航空发动机内流道静压测量的皮托管式静压探针,通过CFD仿真计算和风洞试验对其气动性能进行对比研究。结果表明:来流速度在Ma=0.3~0.7范围内,CFD计算结果和试验结果有较高的一致性;探头上的压力系数在不同Ma下具有相同的分布规律,压力最大值出现在探头前端,最小值出现在约x_1/L=0.07处;随着Ma升高,支杆上的附面层分离点前移并导致探头上的压力系数略有增大;试验结果还表明,在x_1/L=0.1处开感压孔能够获得较高的测试精度。 相似文献
90.
在分析测试芯片中,微探针已使用了ZO余年之久。但近几年来,世界上90%以上的先进半导体公司都配备了电子束微探针装置。预计在未来数年内,电子束技术在半导体行业中将会得到广泛应用。随着芯片几何尺寸的不断缩小,传统的机械式微探针已显得愈益不适应。其原因之一是微探针难以与亚微米线宽的金属层引线可靠接触。另一原因是,芯片中的节点电容已低至5~10fF,微探针产生的信号衰减已超出允许的范围。电子束微探针不存在上述问题。与普通的电子扫描显微镜一样,电子束微探针是用聚焦得颇细的电子来去扫描集成电路的表面,然后采集芯片… 相似文献