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151.
复合材料薄壁梁限制扭转特性分析   总被引:1,自引:1,他引:0  
基于Vlasov理论,本文建立了任意形状闭室复合材料薄壁梁限制扭转力学分析的分层翘曲模型.文中考虑了剪切和翘曲的影响,并分析了材料和铺层对翘曲位移与应力的影响,建立了相应的升阶谱元法,算例表明,复合材料薄壁梁各分层的翘曲位移及应力相差较大.  相似文献   
152.
介绍了聚氨酯橡胶通用模冲裁的机理,模具结构,用该模具冲裁品种多、批量小的航空机载设备产品中的微薄零件所取得的技术经济效果,并对生产中出现的技术问题提出了解决办法。  相似文献   
153.
磁控溅射DLC/SiC/Ti多层膜对镁合金摩擦磨损性能的影响   总被引:1,自引:0,他引:1  
采用室温磁控溅射技术在镁合金(AZ91D)表面制备DLC/SiC/Ti(类金刚石/碳化硅/钛)多层膜(SiC,Ti为中间层),研究了薄膜的纳米压痕行为和膜基系统的摩擦磨损性能.试验结果表明:DLC薄膜具有低的纳米硬度(4.01GPa)和低的弹性模量(40.53GPa),但具有高的硬弹比(0.10);膜基系统具有好的摩擦磨损性能;在以氮化硅球为对磨件的室温干摩擦条件下摩擦系数平均约为0.19,与镁合金相比,磨损速率低了约三个数量级,膜基系统经3.5h磨损后,未出现裂纹和剥落,显著改善了镁合金的抗磨损性能.  相似文献   
154.
介绍了近15年国内外在磁性薄膜材料电磁参数测试方法的概况及技术特点,这些方法主要包括带状线法、微带线法、波导法及共面波导法、终端阻抗及短路法和谐振腔法。  相似文献   
155.
朱立群  陈海宁  李卫平 《航空学报》2009,30(11):2229-2233
 针对目前电沉积法制备的CuInS2(CIS)薄膜存在S元素含量不足以及微观形貌差的问题,通过在普通镀液中加入SiO2溶胶,采用一步电沉积技术在ITO导电玻璃上制备Cu In S预制薄膜,镀液的主要组成为金属盐、硫代硫酸钠和不同浓度SiO2溶胶。在空气气氛中对Cu In S预制薄膜进行退火处理以获得多晶的CIS薄膜,并通过X射线衍射(XRD)、扫描电镜(SEM)、能量色散谱仪(EDS)及开路电位对CIS薄膜的结构、形貌、成分组成及光响应性能进行研究。结果表明:SiO2溶胶浓度为4 mL/L时,得到的CIS薄膜的结晶度提高,同时,SiO2溶胶作用下得到的CIS薄膜的表面形貌、成分组成和光响应性能都得到改善。因此,镀液中加入SiO2溶胶有利于提高CIS薄膜的性能,尤其是浓度为4 mL/L时,性能提高得最为明显。  相似文献   
156.
 研究了掺磷对纳米硅薄膜微结构和电学特性的影响.指出气相掺杂能使nc-Si:H膜中磷原子浓度达到原子分数5%的水平,掺杂效率可达η≈1.0%.掺磷后能使薄膜暗电导率提高两个数量级,达到σ=10-1~101S·cm-1,电导激活能ΔE=(1~6)×10-2eV水平.掺磷能促使nc-Si:H膜更加有序化且晶粒尺寸变小,这有利于使纳米硅薄膜往应用方向发展.  相似文献   
157.
掺杂纳米硅薄膜的生长特性   总被引:2,自引:0,他引:2  
采用等离子增强化学气相沉积(PECVD)方法成功的沉积出掺杂(主要是磷、硼)纳米硅薄膜.探讨了各种生长工艺条件对掺杂纳米硅薄膜的结构与性能的影响及其规律.利用高分辨电镜(HREM)、Raman散射等手段对掺入不同杂质后的纳米硅薄膜的微结构进行初步研究,并从实验和理论上对掺杂纳米硅薄膜的生长特性进行了探讨.得出掺杂纳米硅薄膜具有与掺杂非晶硅薄膜和掺杂微晶硅薄膜不同的生长特性,即杂质原子绝大部分是非活性的,只有很少一部分在薄膜中起施主作用.大部分非活性的杂质原子存在于晶粒间界.  相似文献   
158.
针对薄板铝合金穿孔型变极性等离子焊接控制困难的问题,探讨了交流频率对其焊接的影响规律,分析了交流频率在40及52 Hz两种情况下,3 mm厚的5A06铝合金VPPA焊接穿孔工艺特点.结果表明,采用合理的焊接参数,可以实现薄板铝合金的穿孔型变极性等离子焊接,并能够稳定地控制焊接过程.当交流频率增大时,焊漏宽度与焊漏高度均增大,咬边产生的几率减小,有利于薄板焊接.随着频率增大,热影响区与焊缝中心的弥散相有增大的趋势,但并不影响接头的拉伸性能.  相似文献   
159.
用脉冲激光沉积(PLD)技术制备了掺杂金颗粒的钛酸钡复合薄膜Au/BaTiO3,用透射电镜和X射线光电子能谱对薄膜进行了表征,研究了其线性光吸收特性.结果表明,用复合靶和转靶的方法可以成功地制备金属纳米团簇复合薄膜,并且制备出的薄膜有良好的化学结构和物理特征.  相似文献   
160.
样条函数法在薄板弯曲中的应用   总被引:1,自引:0,他引:1  
花迎春  王德钊 《航空学报》1990,11(10):495-498
 <正> Large deflection bending problems of perfect and initially imperfect thin plates arc analysed by spline function method. The cubic spline is used as the interpolating functions, of the displacement components u, v and w. Formulas for dealing with usual boundary conditions arc given. Several examples arc given in the end of the papcr..In comparison with FEM, the spline function method has the following adavantagcs; higher accuracy, less preparatory work of the program and shorter CPU time.  相似文献   
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