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短突扩扩压器与火焰筒匹配的实验研究 总被引:3,自引:0,他引:3
本研究通过实验的手段在前置扩压器的结构和进口马赫数不变的条件下,改变内、外环突扩角和相对突扩间隙,研究总压损失和静压恢复的变化规律。结果表明:在本研究的参数范围内,存在有最佳的内外环突扩角的组合(βi=40~45°,βo=45~50°)及相应的相对突扩间隙(δ=1.8),使得总压损失系数σ*有最小值。 相似文献
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Ti/Ni/Ti复合层TLP扩散连接Si3N4陶瓷与接头质量控制 总被引:2,自引:0,他引:2
研究了Ti/Ni/Ti复合层TLP扩散连接Si3 N4 陶瓷。结果表明 ,Ni Ti过渡液相存在时间短 ,在此期间形成的界面结合强度低 ;必须进一步固态扩散反应才能形成高强度接头 ,相应的接头显微结构为 :Si3 N4 /TiN/Ti5Si3+Ti5Si4 +Ni3 Si/NiTi/Ni3 Ti/Ni。连接时间、连接温度、连接压力及Ti和Ni的厚度影响接头组织和强度 ,其最佳值为 6 0min ,10 5 0℃、2 .5MPa、2 0 μm和 40 0 μm ,所得接头室温和 80 0℃剪切强度分别为 142MPa和 6 1MPa。 相似文献
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