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191.
介绍了直流电阻仪器自动检测系统的组成、测量原理和检定方法以及系统实现的功能和特点 ,并进行了测量不确定度评定  相似文献   
192.
典型电离层多普勒记录及其讨论   总被引:7,自引:1,他引:7  
由于地面电离层多普勒频率偏移测量具有时间连续、设备相对简便等固有特征,它特别适合于扰监测。本文在整理北京大学电离层高频多普勒台站观测资料的基础上,给出了一些典型电离层多普勒效应观测现象,这些现象反映了多普勒的细致分析对电离层形态学研究有其特殊意义。利用IRI模型,对多普勒频移的太阳耀斑效应及电离层不规则结构对多普勒频移的影响进行了模拟计算,理论结果与观测基本一致,从而大体上解释了这些响应的物理机制。论文最后对观测到的一种特殊的记录类型--S型描迹的具体成因作了详细的分析和讨论,指出在一定条件下,以一定相位速度水平传播的声重波可以产生这类记录,给出了相位速度和振幅等声重波参数与记录描迹形状的关系,这对从多普勒频移记录推演电离层中的波动特征有一定的帮助。  相似文献   
193.
大型航天器SGCMG系统的奇异性分析研究   总被引:3,自引:0,他引:3  
应用单框架控制力矩陀螺系统(SGCMG)是大型航天器姿控系统较为理想的选择,但是该系统存在严重的奇异现象,增加了操纵律的设计与开发的难度。文章从奇异性分析的角度对单杠架控制力矩陀螺系统的奇异状态进行了研究,提出了奇异可回避性的判别方法,并据此对SGCMG系统奇异状态进行了系统的分类,针对常用的各种构形的SGCMG系统进行了讨论。  相似文献   
194.
直接不交化方法在故障树定量分析中的应用   总被引:10,自引:0,他引:10  
在布尔集合运算方法和不交化方法基础上,提出了单调关联故障树系统定量分析优化方法,通过故障树定量分析优化方法,可以方便地得到系统的可靠度、不可靠度、最小割集、最小路集、关键重要度等指标。  相似文献   
195.
简述了相位法曲面三维全场无接触检测的基本原理,研究了被测曲面的梯度变化对频谱分析和滤波处理的影响,推导出相位法曲面可测梯度极限的理论公式,并通过锥面测量验证了这一公式的正确性。  相似文献   
196.
介绍研制的一种实用Ku波段扫频双六端口网络分析仪。该仪器能同时测量双口网络的4个散射参数及单口网络的复反射系数。  相似文献   
197.
模拟地球同步轨道辐照环境对光学太阳反射镜性能的影响   总被引:4,自引:0,他引:4  
研究了模拟地球同步轨道辐照环境对卫星用温控涂层-光学太阳反射镜(OSR)性能的影响。对所研制的两类OSR 片进行的辐照试验项目有,真空紫外辐照、低能电子和两种能量的质子辐照。此外还进行了等离子体环境条件下的表面充/放电效应试验。经过相当于安装在地球同步轨道卫星南北极位置处,在空间七年所受到的电子、质子和紫外辐照总剂量的辐照后,导电型OSR 的太阳光谱吸收率α_s 由0.068增加到0.078,法向发射率ε_n 由0.83降低到0.72;而非导电型OSR的α_s 由0.066增加到0.085,ε_n 由0.82降低到0.76。表面充/放电试验的结果表明:导电型OSR 的充电电位仅在15~40V 之间,而非导电型OSR 的充电电位则可高达13kV。因此导电型OSR能有效地控制表面的充/放电现象。  相似文献   
198.
六端口微波测量技术   总被引:1,自引:0,他引:1  
六端口技术是从70年代初发展起来的一项新的微波自动测量技术。经过十多年来各国科技工作者的研究、实践,无论在理论上,还是在系统构成、误差分析等方面均趋于成熟。该技术目前已广泛应用于微波计量、安全防护和工业在线检测诸部门。由六端口网络组成的自动网络分析仪,可望成为技术性能高的自动测试系统。本文分四个部分,系统地介绍了六端口技术的发展及其在微波测量中的应用;几种常用六端口结的组成及其设计准则;六端口自动网络分析仪的校准及其测量方法,以及如何评定六端口网络分析仪不确定度等问题,供从事微波计量测试及有关人员参考。  相似文献   
199.
异型孔空心叶片壁厚检测的试验研究   总被引:2,自引:0,他引:2  
发动机叶片的结构型式和制造误差,直接影响发动机的性能和使用寿命。运用超声波法和电涡流法,对两种不同材料和形式的试件进行了试验。电涡流法受到探头直径和试件几何尺寸的影响,测量误差大,超声波法由于存在测量盲区,测量厚度的下限受到限制。但测量值与实际值相关,若对探头加以改进,用于异型孔空心叶片壁厚检测是可行的。  相似文献   
200.
SiO_2/Ag薄膜系统是扫描辐射计内光路反射镜的主要组成部分。采用高分辨扫描俄歇微探针(SAM)和扫描电镜分析对SiO_2/Ag 薄膜系统失效进行了较为全面的分析研究。通过扫描电镜观察发现,失效的反射镜表面SiO_2薄膜上存在大量析出物,借助于SAM分析,表明这些析出物主要是银和铜,析出物表面伴随有硫化和氧化。SAM的深度剖面结果说明,有析出物存在的区域,各薄膜层中存在原子间的扩散。文章就反射镜中Ag、Cu、和O的扩散和穿透行为进行了讨论,认为SiO_2薄膜致密度较差是导致反射镜失效的主要原因之一。  相似文献   
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