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121.
122.
选用NOAA提供的太阳质子事件表以及SGD发表的与其相关的射电多波段的观测资料进行了统计分析,试图从厘米波,毫米波爆发与质子事件的关系上寻找规律,从而获得一些有意义的结果. 相似文献
123.
利用脉冲激光开展的卫星用器件和电路单粒子效应试验 总被引:2,自引:1,他引:2
利用脉冲激光进行单粒子效应试验具有操作方便、试验效率高、可对芯片单粒子效应响应的空间区域和时间特性进行测试等特点,可作为卫星用器件和电路单粒子效应测试的有力手段。利用自主建立的脉冲激光单粒子效应试验装置(PLSEE),针对某卫星用数字器件和电路进行了辐照试验,观测到了丰富的单粒子效应现象,首次测试了多次单粒子锁定对器件和电路的影响,对器件选用评价和电路系统抗单粒子效应设计具有参考价值。利用此装置,还首次在国内对有空间应用背景和前景的运算放大器、光电耦合器进行了单粒子瞬态脉冲效应的试验,表明这些器件像数字器件一样会发生严重的单粒子效应,而且更难捕捉和定位,对卫星系统的威胁不容忽视。 相似文献
124.
125.
微小卫星数据存储器单粒子作用的检测及纠错 总被引:4,自引:1,他引:3
因为辐射导致的单粒子翻转效应(SEU),使得微小卫星星上存储器在太空运行时其内容可能出现小概率错误,这种错误会影响计算机系统的运行和关键数据。文章阐述了“清华一号”微小卫星数据处理系统对SEU的纠错方法,分别介绍了实现(12,8)和(39,32)的汉明码纠错设计和基于FPGA的三模块冗余纠错编码方法,并分析了这些方法的工作原理和过程。 相似文献
126.
使用Space Radiation 7.0工具分析临近空间中子辐射环境,研究其与海拔高度、太阳活动和经纬度的关系及内在原因.在此基础上,提出了一种基于蒙特卡罗方法的大气中子实时错误率预计方法,并以航空电子系统关键集成电路FPGA为例,预计其单粒子翻转敏感模块包括配置存储器、块存储器和用户触发器,单粒子功能中断敏感模块包括上电复位电路、SelectMAP接口等的实时飞行错误率.结果表明,配置存储器中发生的单粒子翻转达到总单粒子翻转率的77%,而上电复位电路和SelectMAP接口中发生的单粒子功能中断各占总单粒子功能中断率的36%.根据RTCA DO-254对飞行系统失效等级的划分,该FPGA器件不可用于航空电子系统关键位置. 相似文献
127.
通过对0°W-39°W,40°W-70°W,71°W-90°W经度范围内太阳质子事件与太阳耀斑的相关性计算分析,发现太阳质子事件与太阳耀斑的相关系数依赖于经度.太阳耀斑积分与地球磁链接区域(40°W-70°W)太阳质子事件强度的相关系数最大.相关系数的这种特点与耀斑加速粒子的最大流量只出现在磁链接区域的特征相吻合.计算结果表明,太阳耀斑对太阳质子事件具有贡献,即耀斑对E ≥ 10MeV的质子加速有贡献.耀斑和CME在磁链接区域对太阳质子事件的贡献相同,这说明太阳质子事件是混合型事件. 相似文献
128.
北驼峰区电离层GPS卫星闪烁事件时空特征及对通信的影响 总被引:1,自引:1,他引:0
基于子午工程北大深圳站(22.59°N,113.97°E)电离层GPS双频接收机在2011年1月1日至2017年12月31日连续7年的长时间序列闪烁和TEC观测数据,分析不同太阳活条件下华南赤道异常北驼峰区观测到的GPS卫星L波段电离层闪烁事件时空分布特征及其对通信的影响.结果表明:GPS闪烁事件几乎都发生在夜间,且主要发生在春秋分月份;在不同太阳活动条件下,夜间GPS闪烁事件都主要发生在北驼峰区域靠近磁赤道的一侧,且GPS闪烁事件存在明显的东-西侧天区不对称性,即在台站西侧天区发生的闪烁事件明显偏多;在不同太阳活动条件下,弱闪烁事件伴随的TEC耗尽和卫星失锁事件比例相对较低,强闪烁事件则大部分都伴随着TEC耗尽和卫星失锁事件的发生. 相似文献
129.
雷暴期间次级宇宙线粒子强度瞬时变化研究 总被引:1,自引:1,他引:0
雷暴期间大气电场强度变化及其伴随的宇宙线粒子增长的研究, 对于理解大气电场对宇宙线次级粒子的加速机制具有极其重要的意义. 2006年4月至 8月期间, 西藏羊八井宇宙线观测站记录到了20多次雷暴事件. 分析了雷暴期间, ARGO实验scaler模式下次级宇宙线计数与大气电场之间的相关性. 结果显示, 雷暴期间大气电场剧烈变化时, 多重数n=1, 2的次级宇宙线计数率有明显增长, 增幅在1%~9%之间, 然而n=3, n≥ 4的次级宇宙线计数率增长不明显, 甚至没有增长. 该结果为进一步研究雷暴期间大气电场对次级宇宙线的加速机制打下了基础. 相似文献
130.
对分别采用UC1825L和UC1825AL的宇航电源模块试验装置进行重离子辐照试验,验证2款脉宽调制器的单粒子效应阈值。试验结果表明,UC1825L的抗单粒子效应能力优于UC1825AL——UC1825AL如发生单粒子效应,会导致电源模块输出电压出现短时间(40~50 ms)下跌;而UC1825L如发生单粒子效应,对电源模块正常供电无影响。分析脉宽调制器受单粒子效应影响的机理,对比内部结构框图发现,UC1825AL比UC1825L多一个重启延时锁存器和一个故障锁存器,导致其对单粒子效应更敏感。研究结果可为宇航电源控制芯片的选用提供参考。 相似文献